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工作原理
BOS-R2通过X射线管产生高能X射线，激发被测样品中的原子内层电子，外层电子跃迁时释放特征X射线（荧光）。高分辨率半导体探测器捕获不同能量的X射线，结合多道分析器（MCA）与专业软件，根据元素特征谱线峰位与强度，定量计算样品中各元素的含量。设备支持真空/大气环境检测，适配不同样品形态需求。
应用范围
该设备广泛应用于冶金行业（金属合金成分分析、矿石品位检测）、地质勘探（岩矿元素定量化）、环保领域（土壤/沉积物重金属污染评估）及考古研究（文物材质年代测定）。例如，在某钢铁企业中，BOS-R2快速分析铁矿石中的Fe、Si、Al含量，指导配矿工艺；在环保局项目中，仪器可检测土壤中的Pb、Cd、As等重金属，为污染治理提供数据支持。
产品技术参数
元素检测范围：Na（11）~U（92）
检测限：1ppm~0.1%（取决于元素与基体）
精度：±5%（相对标准偏差，同一样品多次测量）
分析时间：30秒~5分钟（可调）
样品形态：固体块状、粉末压片、液体（需配套样品杯）
探测器类型：硅漂移探测器（SDD，分辨率≤140eV）
X射线管电压：50kV（可调）
数据输出：元素含量表、谱图、合格判定结果
接口：USB、RS232、以太网
电源：AC 220V±10%，50Hz
尺寸：主机：600mm×500mm×400mm
产品特点
多元素同步分析：单次检测可覆盖从轻元素到重元素的全谱分析，适用于复杂基体样品；
无损快速检测：无需制样或化学处理，30秒内完成分析，提升检测效率；
高分辨率探测器：SDD探测器能量分辨率优于140eV，精准识别相近元素（如Pb与Bi）；
智能软件系统：内置标准物质库与自动校准功能，支持GB/T、ASTM等标准，数据可直接生成报告；
操作便捷与低维护：触控屏界面，中文导航，日常仅需定期清洁样品仓，运维成本低。
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