全部
▼
272
工作原理
BX53M基于透射与反射光学原理，通过UIS2无限远校正光学系统消除像差，实现高分辨率成像。其核心MIX观察技术结合环形LED定向暗场照明与传统明场、偏光模式，可灵活切换光源角度，精准捕捉样品表面凸起与凹陷的细微差异。例如，在检测金属涂层时，MIX技术能清晰呈现涂层厚度不均与基底裂纹；配合HDR动态范围增强功能，可自动平衡亮区与暗区曝光，减少眩光干扰，确保图像细节完整。
应用范围
覆盖金属材料全流程检测：从原材料缺陷筛查（如夹杂物、偏析）到热处理效果评估（如淬火层深度、晶粒尺寸），再到焊接接头质量验证。在电子行业，可分析印刷电路板镀层均匀性；在汽车制造领域，支持齿轮、轴承等零部件的疲劳裂纹检测。设备兼容抛光金属、切片样品及异形工件，最大样品高度达105mm，负重6kg，满足大型部件直接观察需求。
产品技术参数
光学系统：UIS2无限远校正，支持明场、暗场、偏光、DIC及MIX观察模式
物镜转换器：六孔电动编码转换器，支持快速切换物镜
载物台：行程150mm×100mm，带扭力调节与Y轴锁定功能
照明系统：高强度白光LED，色温恒定，寿命超20,000小时
图像处理：集成奥林巴斯Stream软件，支持全焦点图像拼接、3D表面重建及ISO标准报告生成
产品特点
模块化设计：支持反射、透反射、红外及荧光观察模式扩展，适配温控台、激光共聚焦等配件，满足特殊试验需求。
智能化操作：一键保存常用参数设置，自动记录硬件状态与软件配置，减少人为误差；20组预设观察模式支持快速切换，提升检测效率。
人体工学设计：可倾斜双目镜筒与低位载物台，降低长时间操作疲劳感；同轴粗/微调焦手柄，操作流畅度提升40%。
咨询底价
