全部
▼
307
工作原理
VEL基于能量色散X射线荧光光谱（ED-XRF）技术，通过微型X射线光管发射高能光子束激发样品表面原子。当高能光子撞击金属原子时，内层电子被击出形成空穴，外层电子跃迁填补空穴时释放特征X射线荧光。设备搭载的硅漂移探测器（SDD）可精准捕捉这些荧光信号，结合内置算法将能量谱转换为元素种类及含量数据，实现从镁（Mg）到铀（U）的元素分析，检测范围覆盖1ppm至99.99%。
应用范围
该设备广泛应用于多场景检测需求：
工业制造：快速筛查原材料成分，监控生产过程中金属牌号一致性，防止混料；
废旧回收：现场分拣合金金属，精准识别不锈钢、铝合金、铜合金等，提升回收效率与价值；
航空航天：检测高温合金、钛合金等关键部件的微量元素含量，确保材料性能达标；
能源电力：验证压力容器、管道等设备的金属材质，保障运行安全。
技术参数
元素分析范围：Mg-U（标配SDD探测器可测34种元素）；
检测精度：关键元素含量误差≤0.1%；
检测时间：1-2秒快速出结果；
激发源：50kV可变高压X射线光管，铑靶；
探测器：SDD（25mm²），分辨率≤129eV；
防护等级：IP54（防尘防水溅），通过4英尺坠落测试；
数据存储：32GB存储卡，支持8万组数据及光谱图存储。
产品特点
VEL以“便携性、智能化、高适应性”为核心优势：
极致便携：重量仅1.54kg，配备可充电锂电池，支持连续工作8小时，适应野外、车间等复杂环境；
一键操作：内置500+种合金牌号数据库，无需复杂设置，扣动扳机即可自动匹配牌号并显示结果；
无损检测：无需切割或打磨样品，直接接触表面分析，保护文物、在役设备等珍贵样本；
数据互联：支持Type-C数据传输与蓝牙打印，可导出Excel测试报告，便于质量追溯与数据分析。
咨询底价
