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工作原理
ARL™ QUANT'X EDXRF基于能量色散X射线荧光（EDXRF）技术。X射线管发射的高能X射线照射样品，激发样品中元素原子产生特征X射线。高分辨率半导体探测器（如SDD或Si-PIN）捕捉不同能量的X射线光子，通过多道分析器（MCA）生成能谱图，最终由专业软件解析元素种类及含量，实现快速、无损的定量分析。
应用范围
设备适用于多场景元素分析需求：
冶金行业：金属合金成分鉴定、牌号分类与杂质元素筛查；
地质勘探：矿石品位测定、矿物元素组成分析；
环保监测：土壤、水质中重金属（如铅、汞、镉）污染评估；
建材领域：水泥、玻璃、陶瓷原料质量控制与成分验证；
科研教学：材料研发、教学实验中元素定性定量分析。
产品技术参数
检测元素范围：Na（11）~U（92）；
检测限：1-100 ppm（依元素而异）；
分析时间：30-200秒（可调）；
探测器：高分辨率SDD探测器（分辨率≤140eV）；
X射线管：铑靶或银靶（可选）；
样品形态：固体、粉末、液体（需配套样品杯）；
仪器尺寸：650mm×550mm×480mm；
电源：AC220V±10%，50Hz。
产品特点
多元素同步检测：一次测量可覆盖数十种元素，提升分析效率；
操作智能：中文界面软件，内置行业检测方法库，无需专业背景即可操作；
稳定性高：内置温控系统与自动校准功能，适应复杂环境；
无损检测：无需破坏样品，适用于珍贵或不可再生样本；
数据可靠：符合ASTM、GB等国际标准，支持报告导出与溯源。
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