全部
▼
288
工作原理
DSF-R2基于X射线荧光光谱技术，通过高压X光管激发样品表面原子，使外层电子跃迁至高能态后释放特征X射线荧光。仪器搭载高分辨率SDD硅漂移探测器，精准捕捉荧光能量并转化为电信号，结合数字多道分析系统实现多元素同步定量分析。其智能真空系统可自动切换空气/真空模式，有效降低轻元素（如Na、Mg）的检测干扰，同时配备8种可调准直器与4种滤光片，适配不同样品形态与检测需求。
应用范围
覆盖多行业元素分析场景：金属加工领域支持合金牌号鉴定（如不锈钢、铝合金）及有害元素（Pb、Cd）筛查；地质勘探中可快速分析岩石、土壤中的主量及微量元素；环保行业用于电子废弃物、污染土壤的重金属（Cr、Hg）检测；工业材料领域可测定陶瓷、玻璃的成分比例及涂层厚度。设备支持固体、粉末、液体等多种样品形态，满足实验室与现场检测双重需求。
技术参数
元素范围：硫（S）至铀（U），覆盖25种以上元素
检测限：低至2ppm，轻元素检出能力达0.005μm
分辨率：SDD探测器实现125eV能量分辨率
功率与稳定性：50kV高压发生器，管流≤1000μA，支持24小时连续稳定运行
智能配置：内置高清工业摄像头、2D全自动移动样品台，支持图像联动多点测试
产品特点
高效精准：1秒内完成单点检测，重复性误差≤0.5%，数据可靠性达实验室级标准。
无损便捷：非破坏性分析避免样品损耗，200目粉末或块状样品直接测试，减少制样成本。
安全智能：光闸联动安全装置与三重防护模式，确保操作人员辐射安全；预约预热功能支持远程启动，提升检测效率。
扩展性强：开放API接口兼容第三方软件，支持定制化分析模型开发，适配不同行业标准（如RoHS、ELV指令）。
咨询底价
