全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
品名：全反射X射线荧光光谱仪（TXRF）
产品型号：S4 T-STAR
品牌：Bruker/布鲁克
原产地：德国
S4 T-STAR® 是一种多功能工具，用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射线光谱仪.用于分析各种样品类型，包括悬浮液、粉末、纳米颗粒或薄膜。
制样简单，无需消解，而ICP则需要完全溶解的液体样品。
TXRF 光谱仪 S4 T-STAR® 提供
TXRF 运营成本极低，无需气体、冷却介质或复杂的实验室基础设施。
自动校准功能，基本无需后期维护
优化后的测试系统支持工业级24h不间断测试。
Bruker多样化的样品托盘和工具为用户提供了更多选择，可加快样品制备速度，降低样品污染风险。
参数配置：
参考标准:
GB/T24578-2024半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱仪
GB/T42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱仪
GB/T40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱仪(TXRF)测定硅片表面元素污染
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