全部
▼
313
工作原理
FM-NanoviewOp-AFM采用光杠杆式AFM技术与光学显微成像系统集成设计。光学模块通过CCD相机实现样品宏观形貌观察与定位，AFM模块则通过微悬臂探针扫描样品表面，利用激光反射检测探针与样品间的原子间作用力，生成纳米级三维形貌数据。设备支持接触模式、轻敲模式及力学曲线测量，可同步获取光学图像与AFM扫描结果。
应用范围
该设备广泛适用于半导体、材料科学、生物医学及精密制造等领域，主要用于：芯片表面缺陷定位与纳米结构分析；金属、陶瓷、高分子材料的表面形貌与粗糙度检测；生物样本（如细胞、DNA）的微观结构观察；以及纳米材料研发、摩擦学研究及工业产品表面质量控制。
产品技术参数
光学分辨率：0.5μm（明场/暗场）
AFM扫描范围：XY轴50μm×50μm，Z轴8μm
XY轴分辨率：0.2nm
Z轴噪声水平：<0.1nm
扫描速度：0.5-20Hz（可调）
探针类型：氮化硅/金属镀层探针（可选）
样品尺寸：最大直径150mm（兼容标准载玻片）
电源：AC220V±10%, 50Hz
外形尺寸：800×600×750mm
产品特点
一体双模设计：光学显微与AFM检测无缝切换，提升定位效率与检测精度。
高稳定性架构：采用大理石基座与抗震设计，适配实验室与工业环境。
智能化软件：内置自动调平、图像拼接及数据分析功能，支持3D形貌重建与统计计算。
用户友好操作：12.1英寸触控屏集成控制，数据可导出为光学图像、AFM扫描图及力学曲线。
多功能扩展：可选配导电探针、高温样品台及液体环境检测模块，适配复杂研究需求。
咨询底价
