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工作原理
C1202HR采用激光三角反射法与高精度CMOS传感器，通过发射波长为650nm的可见激光束垂直照射薄膜表面，反射光经光学透镜组聚焦至CMOS阵列。系统根据光斑在传感器上的位移变化，结合薄膜折射率与智能温度补偿算法，实时计算厚度值。非接触式测量避免了对柔软或超薄材料的物理压迫，同时消除接触式测量的摩擦误差，确保测量结果的真实性与重复性。
应用范围
覆盖各类金属与非金属薄膜的厚度检测场景：锂离子电池极片铜箔/铝箔厚度验证、电容薄膜介电层厚度分析、光学镀膜反射层厚度筛查、食品包装复合膜层间厚度一致性检测等。其0.01μm分辨率与±0.1μm精度，适配实验室研发测试与生产线高速在线检测双重需求，尤其适合运动中的薄膜或曲面薄膜的动态测量。
技术参数
测量范围0-2000μm（可定制扩展），分辨率0.01μm，精度±0.1μm；激光波长650nm，测量频率最高20kHz；工作距离15-35mm可调，支持垂直/倾斜多角度测量；配备7英寸触控屏与以太网/RS485/USB数据接口，兼容MES/ERP系统；防护等级IP65，工作温度范围0-50℃，湿度≤85%RH。
产品特点
德国进口光学组件经精密校准，抗环境光干扰能力强；智能动态滤波算法可自动过滤薄膜抖动噪声，确保高速测量稳定性；支持多探头同步测量，满足复合膜层间厚度差分析需求；一键标定与自动对焦功能简化操作流程；模块化设计便于维护升级，寿命超10年，助力企业实现降本增效与智能化生产转型。
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