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工作原理
XD-1000 基于能量色散X射线荧光光谱分析技术，通过X射线管产生的高能X射线激发样品表面原子，使内层电子被驱逐后形成空穴。外层电子跃迁至空穴时释放能量，以特征X射线荧光形式发射。探测器捕获这些荧光后，将其光信号转换为电信号，经数字多道分析器处理后，通过计算机软件分析谱峰信息，最终计算出镀层中各元素的种类及厚度。
应用范围
电镀行业：检测镀锌（Zn）、镀镍（Ni）、镀锡（Sn）、镀金（Au）、镀银（Ag）等金属镀层厚度，确保电镀工艺符合标准。
电子电器：分析印刷电路板（PCB）、连接器、端子等部件的镀层厚度，保障产品性能与可靠性。
五金工具：测量卫浴配件、汽车零部件、紧固件等金属制品的镀层厚度，控制表面处理质量。
材料研发：支持新材料镀层工艺的快速验证与优化。
产品技术参数
元素分析范围：从硫（S）到铀（U），覆盖常见金属镀层材料。
镀层分析层数：支持单层、双层及多层镀层分析，最多可分析5层镀层结构。
厚度测量范围：一般在50μm以内（每种材料有所不同），最薄可测试0.005μm。
检出限：可达2ppm，满足微量元素的准确检测需求。
分辨率：采用SDD探测器，分辨率140±5eV，确保检测精度。
测试时间：10秒及以上，快速完成检测任务。
样品平台移动范围：120mm×120mm，样品腔升降平台移动高度0～150mm。
X射线激发源：50KV/1000μA-钨靶X光管及高压电源。
准直器：提供0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合，满足不同测试需求。
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头，支持无感自动对焦（可选配激光对焦）。
仪器尺寸与重量：主机尺寸约690mm（W）x 575mm（D）x 660mm（H），重量约90-100kg。
产品特点
非破坏性检测：无需破坏样品，直接测量镀层厚度，保留样品完整性。
高精度与高稳定性：采用SDD探测器与高精度数字控制高压电源，确保数据准确可靠。
多元素同时分析：一次检测可分析多达24种元素，全面评估镀层成分。
智能软件支持：内置经验系数法、基本参数法（FP法）等多种分析算法，自动校准与数据处理，生成详细检测报告。
操作便捷：精密三维移动平台和高清摄像头满足微小产品测试需求，鼠标点击位置即为被测点，支持激光定位与图像自动对焦。
安全防护：符合国际安全标准，X射线泄漏量远低于限值；样品腔盖未闭合时X射线管不工作，确保操作安全。
环境适应性：适应电镀车间、实验室等环境条件，操作环境温度15℃～30℃，湿度≤90%。
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