G200X纳米压痕仪划痕仪
这是一款先进的纳米压痕仪，用户可以在操作界面上灵活、方便地进行纳米级力学测试。NanoIndenterG200X采用高速控制器电子设备、升级后的用户界面和先进的InView™软件能实现各种可选的高级应用模块功能：特定频率测试、定量划痕和磨损测试、基于探针的集成成像、高温测试和自定义测试协议。能够快速准确的提供各种定量的力学测试结果。能够轻松表征广泛的材料力学性能，从硬质涂层到超软聚合物样品，并针对不同应用提供综合全面的纳米力学测试升级选件和解决方案。
产品描述
NanoIndenterG200X可提供纳米级的力学测试功能，简单易用，能够精确进行各种力学定量分析。G200X系统能够轻松表征广泛的材料力学性能，从硬质涂层到超软聚合物样品，并针对不同应用提供综合全面的纳米力学测试升级选件和解决方案。G200X系统中配置了高精度纳米马达样品台、大样品安装系统和高分辨率光学显微镜。InView软件、InQuest控制器和InForce驱动器让KLA全线压痕产品系列具有一致的卓越性能。G200X系统可选功能包括连续刚度测量(CSM)、扫描探针显微成像、划痕测试、动态力学分析频率扫描，IV电压电流特性测试、超高速压痕测试和冲击测试等等。
主要功能
●电磁驱动作动器可轻松实现载荷和位移的宽动态范围的控制。
●高分辨率光学显微镜与精密XYZ移动系统结合能实现高精度观察与定位测试样本。
●便捷的样本安装台与多样本定位设置功能实现高通量测试。
●高度模块化设计使设备远不止能进行压痕测试，设备还提供扫描探针成像功能、划痕及磨损测试功能、高温纳米力学测试功能、连续刚度测试(CSM)和高速3D及4D力学图谱等模块化升级选件。
●直观的用户操作界面便于快速地进行测试设置；仅需点击几下鼠标即可完成复杂测试的参数设置。
●实时高效的实验控制，简单易用的测试流程开发和测试参数设置。
●全新的InView软件，提供用于分析数据的Review软件和生成各种综合性测试报告的InFocus软件。
●备受赞誉的材料表面力学图谱功能和高速测试功能，极大地提高了定量数据的可靠性。
●InQuest高速数字控制器，数据采集速率可达100kHz，时间响应常数可达20µs。
主要应用
●快速硬度和模量测量(基于Oliver-Pharr模型)
●快速材料表面力学特性分布测量
●ISO14577标准化硬度测试
●薄膜及涂层测试
●界面附着力测量
●断裂韧性测量
●扫描探针显微成像（3D成像）
●定量划痕和摩擦磨损测试
●高温纳米压痕测试
●IV电学测试
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