相移剪切电子散斑干涉仪
产品详情
剪切电子散斑干涉是通过错位（剪切）光学元件，将物体表面的不同区域成像在同一像面上产生干涉的一种干涉测量技术。通过比较变形前后的干涉图案，可以方便地获得代表物体表面离面位移沿剪切方向斜率变化的干涉条纹。由于结合相移技术，大大提高了相移剪切电子散斑干涉仪测量离面位移变化率的灵敏度。仪器配有电子散斑条纹实时处理软件，具有操作简单、对测量环境要求低等优点，可用于现场测量。
技术参数
图像采集：2448×2048 分辨率，60fps，USB3.0
镜头：25mm定焦镜头（标配，可选配镜头），C接口
光源：半导体激光器（输出功率200mW、波长532nm/633nm)
测量分辨率：1/20级条纹
测量范围：120mm×100mm -300mm×250mm
工作距离：400 - 1000mm
剪切角调节：0°-±5°连续可调
标准试样：Φ100mm 圆盘试样
软件：具备条纹实时显示以及图像处理功能
硬件功能指标
相机：2448×2048 分辨率，60fps，USB3.0
镜头：5mm定焦镜头（标配，可选配镜头）
压电陶瓷：方形压电陶瓷，最大驱动电压150V
压电控制器：通过附带的USB电缆连接电脑，包含两个双向触发端口，可用于读取5V外部逻辑信号或输出5V逻辑信号以控制外部设备。
光源：半导体激光器，输出功率200mW、波长532nm/633nm（可选配）
光学组件：定制化分光棱镜
标准试样：Φ100mm圆盘试样
软件功能指标：
相机控制：设置相机采集参数，控制采集模式：单图采集、多图采集、录制模式、实时相减模式
软硬件协同控制：软件设置采集时的步进电压，同时控制相机采集图片，实现软硬件协同控制
图像处理：可对采集数据进行多种形态学处理
兼容多种导出格式：可导出多种数据类型的采集数据
图像分析：对采集数据进行分析计算，如：相移、相位包裹、逐行解包裹、基于质量的解包裹等
三维显示：具有独立三维渲染功能
应用范围：相移剪切电子散斑干涉仪配合红外加热或声波激振等技术，可以用于
复合材料内部缺陷检测。在航空航天、风电叶片以及
碳纤维加固等领域有着广泛应用。该仪器也是光测力学教学必备的仪器设备。
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