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工作原理
A550结合XRF与ICP技术优势：
初级激发：微型X射线管或激光脉冲激发样品表面，产生特征X射线荧光；
次级增强（选配）：对低含量元素，通过电感耦合等离子体二次激发，提升信号强度；
光谱解析：高分辨率硅漂移探测器（SDD）捕获荧光信号，经多道分析器（MCA）生成能谱图；
智能定量：内置合金元素数据库与FP（基本参数法）算法，自动校正基体效应，输出各元素质量分数。
仪器支持无损检测与微区分析（最小采样面积Φ0.2mm），适应粗糙、异形样品表面。
应用范围
金属冶炼：炉前成分快速分析，优化合金配比；
制造业：原材料入厂检验、焊接材料一致性核查；
航空航天：高温合金、钛合金牌号鉴定与失效分析；
废旧回收：金属废料分类分级，提升资源利用率；
质检机构：金属制品成分合规性检测（如ASTM E415、GB/T 11170标准）。
产品技术参数
检测元素：Fe、Ni、Cr、Mo、Ti、Al、Cu等26种元素
含量范围：0.001%~100%
检出限：Cr≤3ppm，Ni≤5ppm，Mo≤8ppm
分析时间：5~30秒（无损模式）/60~120秒（ICP增强模式）
激发源：50kV/200μA微型X射线管或激光脉冲（可选）
探测器：SDD探测器，分辨率≤130eV
准直器：Φ0.2mm/Φ1mm可换
数据存储：≥50,000组记录，支持USB/蓝牙/4G传输
防护等级：IP65（防尘防水），适应-20~50℃环境
产品特点
双模融合：XRF快速筛查+ICP精准定量，满足不同场景需求；
超低检出限：SDD探测器结合算法优化，实现痕量元素检测；
便携耐用：主机重量1.8kg，镁铝合金机身，通过1.5米跌落测试；
智能交互：7英寸触控屏，支持语音导航与一键牌号匹配；
安全合规：符合ISO 9001与CE标准，辐射剂量＜0.5μSv/h。
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