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工作原理
EDX4500H通过内置微型X射线管发射高能X射线，激发样品表面原子内层电子跃迁，释放特征X射线荧光。探测器（SDD硅漂移探测器）捕获荧光信号后，由多通道分析器解析能量谱线，结合标准数据库比对，定量计算元素种类及含量。设备支持多基体分析模式，可自动识别铜基、铁基、铝基等材料类型，全程无需制样或化学试剂，实现无损、快速检测。
应用范围
冶金铸造：铜合金（如黄铜、青铜）、铝合金、锌合金等牌号鉴定及成分偏析分析；
质量控制：金属制品生产过程中的元素含量监控（如Cu、Zn、Fe、Sn、Pb、Ni等）；
科研教学：材料科学实验中的成分分析与合金性能研究。
技术参数
检测元素：Mg-U之间24种元素，覆盖金属材料常规定量需求；
含量范围：1ppm-99.99%（可扩展至100%）；
检测时间：10-120秒可调，支持快速筛查与精准分析模式；
探测器：SDD硅漂移探测器，分辨率≤135eV；
激发源：4W微型X射线管，电压50kV，电流0-100μA；
显示与操作：7英寸彩色触控屏，支持中英文界面及语音导航；
数据管理：10万组存储，支持USB/蓝牙传输及PC端软件分析；
电源与尺寸：锂电池供电（续航8小时），主机尺寸350mm×280mm×120mm，重量5.8kg。
产品特点
无损快速检测：无需制样，30秒内完成铜合金主成分分析，误差≤0.5%；
高精度与稳定性：SDD探测器结合智能温度补偿，长期运行误差≤1%；
便携设计：主机重量5.8kg，内置高容量锂电池，适应车间、野外等多场景；
智能软件：支持自动材质识别、多基体切换及合金牌号库匹配，操作门槛低；
安全防护：配备双轴承机械快门、三重辐射防护，通过CE安全认证；
售后服务：提供终身免费软件升级、1年质保及上门安装培训服务。
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