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工作原理：
基于X射线荧光光谱分析技术（XRF）。当仪器内置的高能X射线管发射出的X射线与样品原子碰撞时，原子内层电子被驱逐产生空穴，使原子体系不稳定。外层电子向空穴转移时，释放出具有元素特征能量的X射线荧光。高灵敏度BOOST型Si-PIN探测器捕捉这些荧光信号，并将其转化为电信号。仪器通过内置算法与数据库比对，快速解析出元素的种类和含量，实现无损、快速的材料成分分析。
应用范围：
在废旧金属回收领域，可快速鉴别金属材质和成分，提高回收效率；在金属加工制造行业，对原材料及零部件进行成分检测，确保产品质量符合标准；在航空航天领域，用于关键零部件的合金成分分析，保障飞行安全；在石化、电力等行业，可对设备材质进行可靠性鉴别（PMI），防止因材质问题导致的安全事故；在考古领域，能无损分析文物材质，辅助年代鉴定与修复方案制定。
产品技术参数：
该仪器可分析从镁（Mg）到铀（U）之间的多种元素，检测范围广泛。激发源为50KV/200uA，管压管流可自由调节，采用Ag靶材（标准），Au、W、Rh靶可选配。探测器为BOOST型Si-PIN探测器，具有较高的分辨率和灵敏度。仪器尺寸为254×79×280mm，重量1.6Kg（配置电池），便于携带。配备工业级电阻触摸屏，屏幕尺寸4.3英寸，操作方便。
产品特点：
体积小、重量轻，方便携带至各种现场。操作界面简洁直观，一键式操作，即使非技术人员也可轻松掌握。仪器具备智能电池管理系统，可实时监控电池剩余容量，单个电池可持续工作8小时左右。内置DoubleBeam™技术，自动感知仪器前方有无样品，提高射线安全性。同时，仪器具有强大的数据存储和管理功能，支持多种数据格式输出，方便用户进行数据分析和报告生成。
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