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工作原理：
通过X射线管产生高能X射线，激发样品中的原子内层电子跃迁，释放出具有特定能量的特征X射线（即X荧光）。
应用范围：
应用于RoHS指令合规检测、卤素元素管控、金属合金成分分析、镀层厚度测量及地质矿产分析等领域。
产品技术参数：
配备美国Amptek Si-PIN探测器，能量分辨率达149±5eV，高压电源输出电压0-50kV、电流1-1000μA，功率50W。仪器采用下照式设计，测试时间50-300秒可调，分析范围覆盖1ppm至99.99%。内置30倍500万像素CCD摄像机，可实时观察样品状态。配套FP测量软件集成多种算法，有效降低干扰谱峰。
产品特点：
1. 高灵敏度探测器与DPP数字多道处理器结合，提升高计数率下的分辨率；
2. 全封闭铅板双样品腔与三重防辐射设计，保障操作安全；
3. 智能软件自动设定参数与滤光片，支持一键式操作；
4. 多语言界面与人性化报告生成功能，简化分析流程；
5. 低维护成本，无需耗材，支持长期稳定运行。整机尺寸650×450×450mm，重量50kg，适用于实验室及生产线环境。
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