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电子探针X射线显微分析仪

449

规格/型号：EPMA

品牌：研博

应用领域：检测设备

产地：山东 - 青岛

厂家/供应商：青岛研博科技有限公司

咨询电话:：0532-8675 9646（请说明信息源自“北方有色网”）

更新时间：2025-05-30

级别：待认证

电子探针X射线显微分析仪说明介绍

电子探针X射线显微分析仪

电子探针X射线显微分析仪，又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定性或定量分析。。可以进行点、线扫描（得到成分分布信息）、面扫描（得到成分面分布图像）。相对EDS，检测限更低，有标测试，对于轻元素、微量元素测试精度更高。

样品要求

1. 制样要求

1) 粉末、薄膜、块体均可；

2) 合金或复合材料等偏析明显的材料不需要腐蚀，部分材料如果没有明显偏析，可轻微腐蚀出晶界后进行测试。

2. 样品要求

3) 粉末样品：表征粉末表面提供20mg样品以上；表征粉末内部需要提前沟通确认；

4) 块体样品：直径≤20mm，高度≤10mm；样品上下表面平行，待测面需打磨并机械抛光，保证样品表面的平整度。

3. 其它要求

1) 如果样品由于要求不喷金（喷碳）而导致效果不好，测试老师不安排复测；

2) 样品性质稳定无毒，电子束轰击时不能挥发、易燃易爆等；

3) 有机高分子材料与强磁粉末不能测试。