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工作原理：
基于X射线荧光技术：X射线管发射的高能射线穿透样品表面，与镀层元素原子内层电子发生相互作用，激发特征X射线荧光。
应用范围：
广泛应用于电子制造、汽车零部件、航空航天及珠宝检测等领域。
产品技术参数：
配备空冷式X射线管，管电压50kV可调，管电流10-1000μA，采用比例计数管探测器。准直器提供0.1mm、0.2mm两种规格，搭配CCD摄像头实现样品图像5-7倍放大，定位精度达±0.01mm。设备支持原子序号22（Ti）至83（Bi）元素检测，符合ISO 3497、ASTM B568等国际标准。
产品特点：
1）3秒自动对焦技术，消除人工误差；
2）薄膜FP法软件实现无标样测量，可同时分析5层10元素镀层；
3）广域样品观察功能，支持250×200mm区域图像定位；
4）测量速度提升50%，10秒内完成50nm极薄镀层检测；
5）成本降低20%，兼具高性价比。设备配备样品室门联锁、冲突防止等安全机制，确保操作安全。
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