X射线荧光镀层测厚仪（AL-NP-7010）
X射线荧光镀层测厚仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。另外配以功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及元素含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。此仪器具有测量元素含量与镀层厚度检测的两种功能。
广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、五金、PCB、卫浴、电子电器、贵重金属等行业。
整机性能：
●FAST SDD探测器
探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪
性能的主要指标之一
分 辨 率 < 122eV (分辨率越低则灵敏度越高)
计 数 率 > 1,000,000CPS
铍窗厚度 = 0.005mm
探测功率 < 1.2W
●X射线管 靶材 铑（Rh）或钨（W）
管电压 5-50KV
管电流 1-1000uA
●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）
通道数：2048道
●电源控制器
系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)
恒定制冷控制 400 VDC
●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）
经过内部嵌
铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命>15000小时。
●高压发生器
输入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。
1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准
电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%
电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%
纹波：输出电压的0.25%峰-峰
温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃
稳定性：预热半小时后，0.05%/8小时
●滤光片自动转换系统
滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。
●安全防辐射系统
重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）
全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）
全自动铅板滤光片自动屏蔽装置
样品盖意外开启X射线强制中断装置
延时测试与X射线警示系统
●强大的分析软件工作站
一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。
人性化的人机界面
各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。
测试数据自动存储，具有历史查询功能。
最前沿的定性定量分析方法。
可同时分析几十种元素。
元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。
长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。
对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。
实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。
防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。
●样品分析的种类
可直接检测固体、液体、粉末，不需要复杂的制样过程，直接无损分析样品。
●专业的镀层厚度检测
可分析单镀层、多镀层以及合金镀层。
具有多种镀层的分析方法。
分析厚度：一般0.05-50um（不同元素厚度有所不同）。
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