简介
JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。
工作原理
JEM-ARM200F差校正透射电镜可用于成分，形貌，结构分析测试。获得样品表面形貌，粒径等相关信息。用于获得明、暗场像的衬度像进行分析。直接观察晶体样品中轻元素的原子阵列，还可以同时获取STEM-HAADF像，极大增强观察、分析能力。原子像，选区电子衍射，会聚束电子衍射；对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。 技术参数
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束流强度0.2nm时0.5nA 或更高
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点分辨率≤0.23nm
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聚光镜球差系数可调，±5um 或更好
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放大倍数TEM: 50-2,000,000倍*；STEM magnification: ≥150,000,000*
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样品室≤2 x 10-5 Pa
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加速电压80—300kV
选型原则
检测能力：形貌、结构、成分分析 应用案例
下单网址：www.foftest.com 设备结构
JEM-ARM200F差校正透射电镜，拥有STEM-HAADF像分辨率（63PM）,标配了扫描透射环形明场(STEM-ABF)成像模式。对样品在纳米尺度的精细结构和化学成份进行高水平表征检测。用于纳米科学、材料科学、生命科学等领域的科研项目。
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