简介
日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
工作原理
应用范围：1.金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定。 2.金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域。 技术参数
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检测元素范围(Be)*1 /B～U, EDS：B～U
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X射线检测范围WDS检测的波长范围0.087～9.3nm
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EDS EDS检测的能量范围20keV
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加速电压0～30kV
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束流电流范围10-12 ～ 10-5 A
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束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）
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二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）
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扫描倍率×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）
选型原则
检测能力：表面涂层、镀层、微区成分的定性和定量分析 应用案例
下单网址：www.foftest.com 设备结构
日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
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