简介
TECNAI G2 F20透射电子显微镜是一个多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和髙分辨像，能进行选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和髙分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EⅨ点、线扫描的可以进行微区能谱分析。
工作原理
TECNAI G2 F20透射电子显微镜可进行：
（1）形貌分析，它获得非晶材料的质厚衬度像，多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像（原子像），通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，冋时还可通过明场像、暗场像对样品进行进一步的表征；
（2）结构分析，观察硏究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析，如：髙分辨晶格条纹像，选取电子衍射等。
（3）成分分析：小到几个纳米尺度的微区或晶粒的成分分析，可对样品进行能谱点测、能谱线扫，获得样品中的元素在一个点、一条线的分布情况。TECNAI G2 F20透射电子显微镜广泛应用于髙分子材料、陶瓷、纳米材料、生物学、医学、化学、物理学、地质学、金属、半导体材料等领域的科硏。
技术参数
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最大放大倍数105万倍（1,050,000×）
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点分辨率0.24nm加速电压：200KV
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极限（信息）分辨率0.14nm
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STEM分辨率0.2nm
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最小束斑尺寸0.2nm
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物镜球差系数Cs1.2nm
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物镜色差系数Cc1.2nm
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Ⅹ射线能谱范围B5~U92X
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射线能谱仪能量分辨率136eV
选型原则
检测能力：透射形貌、暗场像、髙分辨像、电子衍射，能谱
应用案例
下单网址：www.foftest.com 设备结构
TECNAI G2 F20透射电子显微镜是一个多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。该仪器配备了STEM、EDX、HADF、CCD等附件，能采集TEM明场、暗场像和髙分辨像，能进行选区电子衍射，能进行EDX能谱分析和髙分辨STEM原子序数像的分析，STEM结合EⅨ点、线扫描的可以进行微区能谱分析。
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