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LiteScope™扫描探针显微镜（SPM），便于集成到各种扫描电子显微镜（SEM）中。互补SPM和SEM技术的结合（CPEM）可以进行复杂的样品分析，包括表面形貌、机械性能、电性能、化学成分、磁性等的表征。 还能与其他扫描电镜附件相结合，如聚焦离子束（FIB）或气体注入系统(GIS ）用于纳米/微结构的制备和表面改性可以对装配结构的快速和简单的3D检查。 同时，SPM和SEM测量能够在同一地点、同一时间、同一协调系统进行。
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高精度纳米拉伸压缩系统——KLA的NanoUTMT150纳米力学测试系统适用于对多种材料的微纳米力学特性进行表征。具备静态、动态拉伸等多种功能，连续动态分析模块提供一种操作简单且性能可靠的试验方法。在连续拉伸和压缩过程中的不同应变状态下，对材料的动态力学特性进行测试分析，可快速获得材料的储存模量、损耗模量、损耗因子等。采用设计特的纳米力学激励传感器，系统将简谐力叠加在静态力上，通过传感器内置的电容检测器，对振幅进行实时监控。
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FT-MTA02是一款集微纳力学测试、微纳机械性能测试、微纳三维操纵及组装于一身的微机器人系统。高分辨力传感探针配合精度很高的三维移动台，能直接且同时准确测得5nN~100mN范围内的微力及1nm~26mm范围内的微位移。带有力传感的微钳能对于0～100um的物体进行拾取、移动、拉伸等操纵或组装。得益于模块化的设计，FT-MTA02能和许多仪器进行联用，例如：探针台、各类光学显微镜、工业产线集成等。非常适合于MEMS、材料、生物等领域的微纳力学测试及操纵等研究。
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FT-MTA03集纳米压痕仪、微拉力仪、轮廓仪和通用微观结构分析仪的功能于一体，其测力范围为±200mN，力学分辨率可达0.5nN（9个数量级），可在三轴方向测量0.1nm至29mm的位移（8个数量级）。FT-MTA03配置高分辨率显微镜，具有95mm的较为高工作距离，可在样品上方180°旋转。配备3百万像素CMOS USB相机，可选择同轴透镜照明、环形光和漫射背光三种可调LED照明原理。
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KLA公司全系列的力学测试产品均采用电磁驱动原理的加载力激发器，iNano台式纳米压痕仪。对纳米压痕物理模型和优线性特性的电磁力驱动原理的深刻理解，以及良好的灵敏度的三片式电容传感器的设计，保证全系列纳米力学产品在整个量程范围内均能得到高精准、高分辨的控制。50mN载荷范围，3nN加载精度，0.002nm位移精度。
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Park XE-15大样品台工业原子力显微镜是专为共享实验室、多变量实验和晶片失效分析设计的高性能设备。它具备100μm×100μm的XY柔韧导向扫描范围和12μm（可选25μm）的挠性导向强力Z扫描，配备滑动连接的超亮二级管头和多样品夹头。此外，选配的编码器XY自动样品载台和垂直对齐的电动Z载台及聚焦载台，进一步提升了操作的便捷性和成像效率。6寸样品台的设计使其能够容纳较大尺寸的样品，实现多样品一次性自动成像，提高数据精确性和稳定性，满足多样化的研究需求。
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LiteScope™是为不同品牌的扫描电子显微镜（SEM）设计的“即插即用”的扫描探针显微镜。根据客户需求，定制并提供适当的适配器和反馈机制，很容易通过四个螺丝将LiteScope™固定在电子显微镜的样品台上，通过线缆与控制器、电脑进行连接。LiteScope™通过可更换探针进行多种扫描探针显微镜（SPM）成像模式。综合分析包括：表面形貌表征、机械性能、电性能、磁性能。
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Nano Indenter® G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。 G200 测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。 该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。 模块化选项可适用于各种应用：频率特定测试，定量刮擦和磨损测试，集成的基于探头的成像，高温纳米压痕测试，扩展负载容量高达10N 和自定义测试。
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原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM)经过30多年的发展后，从形貌测试及其它常规功能来看已经非常成熟。然而常规的原子力显微镜也越来越无法满足科研人员在纳米尺度下对于样品进行多性质原位测试分析的需求，尤其在化学、光学、电学、热学、力学等领域。
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透射电镜多尺度、多视角（明、暗场像，电子衍射， 化学成分）的实验分析能力，基于透射电子显微镜的原位微纳米力学实验仪器，将为研究材料内部缺陷形成、演化行为提供实验平台。将三维纳米操纵与360度旋转耦合的三维重构样品台，是实现原子级三维重构提供设备支撑。将三维重构与原位光学、力学和电学等原位加载功能结合，实现对于三维结构演化的动态解析，无疑将对深化人类对于物质结构的认识提供支撑。
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Swift Tensile Stage原位拉伸台是一款专为现代材料研究设计的多功能设备，适用于扫描电镜、透射电镜、光学显微镜、共聚焦显微镜等多种显微观测系统。它支持EBSD、样品加热和冷却，能够实现“拉伸—剪切”、“压缩—剪切”、“单轴拉伸/压缩”、“纯剪切”及疲劳力学测试等多种模式，适用于薄膜及细丝力学实验。该设备结构紧凑，兼容真空和电磁环境，采用超低速准静态加载方式，便于在成像仪器下进行连续可视化原位监测，揭示载荷作用、材料变形损伤机制与微观结构变化间的规律。
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ezAFM是新设计的精致型原子力显微镜，具有设计紧凑、美观大方、高稳定性、占用空间小等特点，而且软件功能强大、操作简单、用户界面良好，而且价格实惠，性价比较为高。它是理想的实验室用原子力显微镜，广泛应用于高等教育、纳米技术教育和基础研究等领域。产品系列包括：ezAFM、ezAFM+、ezAFMAQUA、以及ezAFM-Vacuum，ezSTM除了基本的形貌等扫描，可以用于电学、磁学等拓展模式，以及液相、真空环境等。
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百贺（Bahens）多头多工位拉伸试验机是由上海百贺仪器科技有限公司出品的一款车用材料万能试验机，专为复合材料的拉伸试验设计。该设备最多可同时对5件样品进行拉伸试验，特别适用于需要进行多次试验的品质管理现场。试验机前设有操作台，配备带有手部开关的气动平面夹具，能够显著减轻操作人员的工作负担，提高试验效率。
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持单侧弯曲式金属薄板包辛格效应试验机是一款专为研究金属薄板在单侧弯曲翻转负荷下的力学行为而设计的设备，属于车用材料万能试验机类别，主要用于抗弯试验。该试验机能够反复从上下施加单侧弯曲翻转负荷，连续测量应力与变形的关系，同时配备间隙传感器测量位移，以评估冲压加工中的弹性后效问题。它能够高精度地评测包辛格效应及弹性率的塑性变形依存性，为成型模拟试验提供重要数据支持。
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台湾拉力试验机cometech QC-503B1，适用于大容量的测试如金属类钢铁棒材、建材类混泥土、织带..等等类别使用，适合容量在100kN内的测试，采落地型设计，可提高机台的稳定性并且便于操作。
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美国EPSILON 3575横向引伸计是一款专为测量轴向受力试样的横向或径向应变而设计的高精度仪器，适用于宽度或直径在0到1英寸（0到25mm）的试样。它通常与3542轴向引伸计配合使用，可用于泊松比测量、各向异性材料（如复合材料）的横向应变测量，以及金属板材试验（如r值的确定）。该引伸计采用高精度应变仪型设计，满足ASTM B-1级和ISO 9513 0.5级精度要求，具备坚固的双弯曲结构，适用于高频循环试验。其自我夹持设计和弹簧固定方式使得安装简便，试样断裂时无需取下引伸计。随机配备泡沫衬垫箱，便于存储和运输。
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美国EPSILON 3540型挠度计是一款专为测量三点和四点弯曲试验变形设计的试验机引伸计，也适用于压缩试验和大量一般变形试验。它采用应变仪型结构，配备磁铁底座，便于安装在扁平或圆形表面。其单测量臂带有球形触头，可测量试验过程中的变形，电输出信号与任何适合应变仪传感器的电子元件兼容。该挠度计满足ASTM B-1级和ISO 9513 0.5级精度要求，采用坚固的双弯曲设计，随机配备泡沫衬垫箱和可调磁座。其弹簧加载臂在超出位移时能自动断开，保护计量器免受损坏，适用于Instron、岛津、Zwick、Lloyd、MTS等多种品牌拉力试验机。
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美国EPSILON 3542轴向引伸计是一款通用型引伸计，适用于轴向拉伸、压缩及循环试验中的变形测量。其标距范围为10-50毫米，变形量范围为标距的5%-100%，可测量金属、塑料、复合材料和陶瓷等多种材料的变形。该引伸计采用双弯曲结构设计，坚固耐用，对振动不敏感，适合高频试验。它配备快速夹持装置，便于快速安装到试样上，也可通过弹簧或橡皮筋固定。3542型引伸计采用应变仪设计，兼容任何适合应变仪传感器的电子元件，通常连接至试验机控制器。
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ESES-1000大变形引伸计是一款专为软质材料设计的高精度检测设备，主要用于测量材料在拉伸过程中的变形量，分析断裂延伸率、定应力伸长和定伸长应力等关键力学性能参数。该设备符合多种国际和国内橡胶测试标准，包括JIS K6251:2010、ISO 37:201、ASTM D412-06a、JIS K6272:2003、ISO 5893:2002和GB/T 528-2009，并支持循环测试，符合JIS K6254标准。它适用于薄膜、塑料等多种软质材料的拉伸试验，能够为材料性能分析提供可靠的数据支持。
2026年01月23日 ~ 24日 
2026年01月23日 ~ 25日 
2026年01月23日 ~ 25日 
2026年01月22日 ~ 24日 
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