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产品概述: CLZL系列转盘过滤器是我公司自主研发、生产的污水深度过滤设备。它的卓越设计使得它运行可靠操作简单，占地面积小，过滤表面积大,维护方便。使用微孔筛网的深度处理工艺，处理后的水浊度低，总悬浮物少。
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Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆（如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料）提供微粒和划痕检测。8420表面缺陷检测系统采用了OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。
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HRP®-260是一个高分辨率、自动化探针式轮廓仪，提供从几纳米到300微米的台阶高度测量功能。P-260支持台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量，扫描范围可达200毫米且无需拼接。HRP®-260配置了与P-260相同的功能，但增加了高分辨率样品台以获得类似AFM的扫描结果。HRP系列高分辨率轮廓仪具有先进的图形识别算法，可增强系统之间程式的可传输性，从而实现7x24小时全天候生产。
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Alpha-StepD-600探针式轮廓仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。D-600还支持2D和3D的粗糙度测量，以及用于研发和生产环节的2D翘曲度和应力测量。D-600包含一个带有200毫米样品载台的电动样品台和具有增强影像控制的高级光学器件。
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InSEM®HT高温原位纳米压痕仪通过在真空环境下独立加热压头和样品，以测量高温下的硬度、模量和刚度。InSEMHT与扫描电子显微镜(SEM)及聚焦离子束(FIB)工作室或独立真空室兼容。InView软件可帮助高级研究人员开发新实验。科学出版物显示，InSEMHT的结果与传统大尺度高温试验数据匹配良好。拥有较大的温度范围能力和较低的拥有成本，这种组合使InSEMHT成为材料开发研究中的宝贵工具。
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NanoFlip原位纳米压痕仪可在真空和气氛条件下，准确、精密地进行硬度、模量、屈服强度、刚度和其它纳米力学性能的测试。无论在扫描电子显微镜（SEM）或是聚焦离子束（FIB）系统中，NanoFlip均可出色完成微柱压缩等测试，并将SEM图像与力学测试数据同步。NanoFlip是一款紧凑、灵活的原位纳米力学测试仪，其测试速度非常快，这对于在惰性条件下（例如手套箱中）测试非均质材料至关重要。基于InForce50电磁力作动器等多种可用功能选项，可获取定量结果，为材料研究提供有价值的解决方案。
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精密全闭环中走丝线切割综合介绍：1、嵌入式高配置电脑，32位PLSC平台，windowsxp系统平台。的精密全闭环中走丝线切割软件借助第三方图形设计编程软件构成边控系统一体化，稳定、可靠、高抗干扰;2、CT型结构整机，合理设计，坚固稳定，刚性好;Z轴加装直线导轨;3、Z轴加装直线导轨，任意升降机头垂直度不变;大大提高金属线材的加工效率。
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详细介绍：我公司生产的DK77系列电火花数控线切割机床具有型号齐全、结构合理、刚性好、精度高等特点。高精度：精度保持性高，机床精度可维持十年不变。高性能：高效率低丝耗，可实现大电流快速无条纹金属切割，连续加工不断丝，保证真圆度过及直角位。
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设备特点：我公司生产的DK77系列电火花快走丝线切割机床具有型号齐全、结构合理、刚性好、精度高等特点。高精度：精度保持性高，机床精度可维持十年不变。高性能：高效率低丝耗，可实现大电流快速无条纹金属型材切割，连续加工不断丝，保证真圆度过及直角位。
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iNano®纳米压痕仪使测量薄膜、涂层和小体积材料变得更简单。准确、灵活、用户友好的仪器可以进行多样的纳米材料力学测试，包括压痕、硬度、划痕和通用的纳米尺度测试。大的力和位移动态测量范围允许对从软聚合物到金属材料进行精确和可重复的测试。模块选项可以适配各种应用：材料性能分布图、特定频率测试、划痕和磨损测试以及高温测试。iNano纳米压痕仪拥有一整套可扩展的测试选项，包括样品加热、连续刚度测量、NanoBlitz3D/4D性能分布图和远程视频选项。
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这是一款先进的纳米压痕仪，用户可以在操作界面上灵活、方便地进行纳米级力学测试。NanoIndenterG200X采用高速控制器电子设备、升级后的用户界面和先进的InView™软件能实现各种可选的高级应用模块功能：特定频率测试、定量划痕和磨损测试、基于探针的集成成像、高温测试和自定义测试协议。能够快速准确的提供各种定量的力学测试结果。能够轻松表征广泛的材料力学性能，从硬质涂层到超软聚合物样品，并针对不同应用提供综合全面的纳米力学测试升级选件和解决方案。
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NanoIndenter®G200系统专为各种材料的表征和开发过程中进行纳米级测量而设计。该系统是一个完全可升级，可扩展且经过生产验证的平台，全自动硬度测量可应用于质量控制和实验室环境。NanoIndenter®G200系统是一种准确，灵活，使用方便的纳米级机械测试仪器。G200测量杨氏模量和硬度，包括从纳米到毫米的六个数量级的形变测量。该系统还可以测量聚合物，凝胶和生物组织的复数模量以及薄金属膜的蠕变响应（应变率灵敏度）。
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弦支穹顶结构是一种新型的大跨度空间结构，它很好地结合了索穹顶结构和单层网壳结构的优点。将索穹顶结构的上部索网改为单层网壳，使结构在成形前具有一定刚度。
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剪切电子散斑干涉是通过错位（剪切）光学元件，将物体表面的不同区域成像在同一像面上产生干涉的一种干涉测量技术。通过比较变形前后的干涉图案，可以方便地获得代表物体表面离面位移沿剪切方向斜率变化的干涉条纹。由于结合相移技术，大大提高了相移剪切电子散斑干涉仪测量离面位移变化率的灵敏度。仪器配有电子散斑条纹实时处理软件，具有操作简单、对测量环境要求低等优点，可用于现场测量。
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