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日立HD-2700球差校正扫描透射电子显微镜（STEM）是一款基于先进电子光学技术与球差校正技术的高端表征设备，专为原子级分辨率的微观结构分析与化学成分表征而设计。其创新的球差校正器与多探测器系统，可实现亚埃级（<0.1nm）分辨率的成像与元素分析，适用于材料科学、纳米技术、半导体及生物医学等领域，是前沿研究与工业质控不可或缺的表征工具。
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TA大力值动态热机械分析仪DMA 3200是一款基于动态力学分析（DMA）技术设计的高端设备，专为测量材料在温度、力载荷及频率耦合作用下的粘弹性行为而开发。其创新的大力值加载系统与宽频振动控制技术，可精准捕捉高模量材料（如复合材料、硬质塑料）的储能模量、损耗模量及玻璃化转变温度等关键参数，是航空航天、汽车制造及电子封装领域不可或缺的力学性能表征工具。
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耐驰激光导热仪LFA 457是一款基于激光闪射法（Laser Flash Analysis, LFA）原理设计的高性能热物理性能测试设备，专为快速、精准测量材料的热扩散系数与导热系数而开发。其创新的脉冲加热技术与高灵敏度红外探测系统，可覆盖从室温到高温（可选配模块扩展至1200°C）的宽温域范围，适用于固体、粉末、涂层及多层结构材料的热管理性能评估，是材料研发、电子封装及新能源领域不可或缺的热分析工具。
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赛默飞Nicolet iS20傅里叶变换红外光谱仪是一款基于FTIR（傅里叶变换红外光谱）技术设计的高性能分析设备，专为快速、精准的分子结构表征与材料鉴定而开发。其创新的干涉仪设计与智能化软件平台，可高效捕捉样品在红外波段的吸收特征，适用于固体、液体、气体及薄膜等多种形态样品的分析，是材料科学、制药、环境监测及食品安全领域不可或缺的表征工具。
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耐驰差示扫描量热仪DSC 300 Caliris® Supreme-H是一款基于热流法原理设计的高端量热分析设备，专为精确测量材料的热力学性能（如玻璃化转变、熔融、结晶、相变及化学反应热）而开发。其创新的高灵敏度传感器与模块化设计，结合宽温域与多气氛控制功能，可满足从基础科研到工业质检的多样化需求，是材料科学、制药、食品及高分子领域不可或缺的热分析工具。
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耐驰真空密闭同步热分析仪STA 449 F5 Jupiter®是一款集热重分析（TGA）与差示扫描量热法（DSC）于一体的高端热分析设备，专为复杂环境下材料的热行为研究设计。其独特的真空密闭腔体与多气氛控制功能，可精准模拟极端条件（如惰性气体、真空或还原性环境），适用于对氧化、挥发或反应敏感的样品分析，是材料科学、能源研究及化工领域不可或缺的表征工具。
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耐驰LFA 717 HyperFlash® HT闪射法导热仪是一款基于激光闪射法（Laser Flash Analysis, LFA）原理设计的高性能热物理性能测试设备，专为高温环境下材料的热扩散系数、导热系数及比热容等参数的精确测量而开发。该设备通过短时激光脉冲加热样品表面，利用红外探测器实时监测样品背面温度随时间的变化曲线，结合数学模型计算热扩散系数，并进一步通过密度和比热数据得出导热系数，具有非接触式、快速、高精度等优势。
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上海爱仪通网络科技有限公司代理的进口珀金埃尔默电感耦合等离子体质谱仪NexION 300，是一款基于电感耦合等离子体（ICP）与质谱联用技术的高端元素分析设备。该仪器通过电感耦合等离子体将样品离子化，结合质谱的高分辨率分离与检测能力，实现超痕量元素（包括同位素）的快速、精准定量，广泛应用于环境监测、食品药品安全、地质勘探及半导体工业等领域，为复杂基体样品中的元素分析提供纳克级灵敏度的解决方案。
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上海爱仪通网络科技有限公司代理的进口日立钨灯丝扫描电子显微镜FlexSEM 1000 II，是一款基于钨灯丝电子源的高性价比成像设备。该仪器通过加热钨灯丝发射电子束，经电磁透镜聚焦后扫描样品表面，激发二次电子或背散射电子，生成高分辨率形貌图像，广泛应用于工业检测、材料表征及教育科研领域，为常规样品提供快速、稳定的微观成像解决方案。
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上海爱仪通网络科技有限公司代理的进口Quantum Design非接触式亚微米分辨红外拉曼同步测量系统mIRage，是一款集成红外光谱与拉曼光谱技术的尖端分析设备。该系统通过非接触式共聚焦设计，同步采集红外吸收与拉曼散射信号，实现亚微米级空间分辨率的化学与结构成像，广泛应用于材料科学、生命科学、半导体检测及环境分析领域，为复杂样品的微区表征提供多模态、高灵敏度的解决方案。
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上海爱仪通网络科技有限公司代理的进口TA动态热机械分析仪Discovery DMA 850，是一款基于动态力学分析技术的高端材料性能表征设备。该仪器通过施加周期性应力或应变，实时测量材料的储能模量、损耗模量及阻尼因子（tanδ），广泛应用于高分子材料、复合材料、生物医学材料等领域，为材料的粘弹性、相变行为及耐热性能提供高精度定量解决方案。
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上海爱仪通网络科技有限公司代理的进口FEI聚焦离子束扫描电子显微镜Helios 400，是一款集成离子束加工与电子束成像的双束系统。该设备通过镓离子束（Ga⁺）实现纳米级精确刻蚀、沉积或切片，结合高分辨率扫描电子显微镜（SEM）实时观察，广泛应用于半导体失效分析、材料微观结构表征及纳米器件制备领域，为微纳加工与三维成像提供一体化解决方案。
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