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工作原理
X-Strata920通过微型X光管发射高能X射线，穿透镀层并激发基材与镀层原子产生特征X荧光。其核心配置大面积硅漂移探测器（SDD）可精准捕获荧光信号，结合智能算法与标准数据库，自动分离多层镀层的信号贡献，同步计算各层厚度（如铜上镀镍再镀金）及元素含量。设备支持从钛（Ti）到铀（U）的元素检测，最小光斑直径0.1mm，单次测量仅需5-15秒，且无需破坏样品，避免传统化学剥离法的误差与成本。
应用范围
电镀行业：检测卫浴五金、门锁、灯具的镀铬、镀锌镍合金厚度，确保耐腐蚀性达标；
电子制造：测量PCB、连接器、LED支架的镀金、镀镍、镀银厚度，保障导电性与焊接可靠性；
汽车零部件：分析发动机部件、传感器、装饰件的电镀层均匀性，提升产品寿命；
珠宝检测：测定贵金属首饰的镀层厚度及纯度，满足质检与定价需求。
技术参数
射线源：40kV微型X光管，管电流0-100μA可调；
探测器：大面积SDD，分辨率≤160eV（Mn Kα），信噪比优异；
测量范围：0.01-50μm（镀金0.01-6μm，镀镍0.1-30μm）；
样品台：XYZ三轴电动移动，最大负重10kg，支持不规则样品定位；
安全设计：符合ISO 3497标准，表面泄漏辐射＜0.2μSv/h。
产品特点
高精度与灵活性：采用激光自动对焦与CCD摄像系统，精确定位微小区域，避免人为误差；
智能化操作：内置五金、电子行业专用分析软件，支持一键生成检测报告，兼容Excel数据导出；
模块化扩展：可选配多种准直器与过滤器，适配复杂形状样品的检测需求；
耐用性强：油冷X光管寿命超10年，电子制冷SDD无需液氮维护，降低长期使用成本。
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