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工作原理
WEIMI542ES采用高分辨率工业相机与远心光学镜头组合，通过非接触式成像技术捕捉工件边缘轮廓。其核心原理为：LED环形光源提供均匀照明，使工件表面特征清晰呈现；手动调节X/Y/Z轴平台，将测量部位移动至相机视野中心；高精度光栅尺实时反馈坐标位置，配合专业测量软件对图像进行亚像素级边缘提取、几何特征拟合及尺寸计算，最终输出精确的测量结果。
应用范围
该设备覆盖多行业关键检测场景：电子制造领域可检测PCB板焊盘间距、IC引脚共面度；模具行业适用于型腔轮廓度、电极放电纹路深度测量；五金加工领域支持冲压件平面度、螺纹参数验证；精密零件加工可实现齿轮齿距、键槽对称度等复杂尺寸检测。其非接触式测量特性尤其适合软质材料或表面易划伤工件的检测，避免二次损伤。
技术参数
测量范围：X/Y轴400×200mm，Z轴行程150mm
光学系统：0.7-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率25-180X
分辨率：0.0001mm（光栅尺精度）
重复精度：≤1.5μm
光源配置：8区LED环形光+同轴光，亮度独立调节
软件功能：支持DXF图纸导入、SPC统计分析、自动对焦测高、自定义测量程序存储
产品特点
高性价比手动平台：在保证0.001mm级精度的同时，降低自动化设备成本，适合中小批量检测需求；
灵活操作体验：X/Y/Z轴手动微调旋钮配合快速移动手柄，兼顾粗定位与精测量；
多功能光源系统：环形光与同轴光切换，适应反光、透光等不同材质工件的成像需求；
模块化扩展设计：支持探针接触式测量、激光测高模块加装，实现二维与三维复合测量。
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