全部
▼
196
工作原理
SCD-BH200M基于无限远色差校正光学系统，结合DIC棱镜与偏光组件，使光源经分光后形成两束相干光，分别穿透样品并重组干涉。样品表面微小高度差（低至纳米级）会导致光程差变化，最终在目镜中呈现明暗相间的浮雕效果，实现无染色高对比度观察。设备配备透反射两用柯拉照明系统，支持明场、暗场、偏光及微分干涉等多种模式切换，适应不同材料分析需求。
应用范围
该显微镜广泛应用于金属材料研究（如晶粒尺寸测定、相组成分析、夹杂物评级）、半导体晶圆检测（表面缺陷识别、镀层均匀性评估）、地质矿物鉴定（晶体结构解析）及精密机械加工（表面粗糙度测量、微裂纹检测）。在汽车制造领域，可快速识别发动机缸体、变速箱齿轮等部件的铸造缺陷，助力生产线质量管控。
技术参数
SCD-BH200M搭载长工作距平场消色差物镜（5X-100X），总放大倍率覆盖50X-1000X；配备1200万像素研究级数字成像系统，支持USB3.0高速传输与景深合成功能；载物台移动范围达76mm×50mm，微调精度0.002mm；光源采用6V/30W卤素灯，光强连续可调，并配备可变孔径与视场光阑。
产品特点
SCD-BH200M采用模块化设计，支持简易偏光、透反射照明等扩展功能；铰链式三目观察筒实现360°旋转，适配多人协同操作；人体工学镜体结构降低长时间使用疲劳；成像系统集成图像拼接、测量分析软件，可自动计算晶粒尺寸、相比例等参数，提升检测效率与数据准确性。
咨询底价
