全部
▼
224
工作原理
MXFMS-BD采用无限远校正光学系统，通过长工作距物镜将样品反射光线转换为平行光束，经分光棱镜同步传输至目镜观察系统与外接摄像头。其核心创新在于集成可变视场光阑与可变孔径光阑，通过调节光阑大小控制入射光通量与成像范围，实现明场、暗场、偏光及DIC微分干涉等多种观察模式的动态切换。DIC模式下，系统通过插入渥拉斯顿棱镜将光波分解为两束偏振光，经样品表面高度差调制后重新合成，产生浮雕效应，显著提升透明或低对比度材料的成像清晰度。
应用范围
该显微镜广泛应用于金属材料检测，如晶粒度分析、焊接缺陷筛查及表面涂层评估；半导体行业支持晶圆形貌观察与导电粒子压痕检测；地质矿物领域可鉴定矿物晶体结构与光学性质；教学科研场景通过多模式切换功能，辅助学生理解材料微观特性与成像原理。其高兼容性设计亦支持安装于大型检测设备，作为自动化产线的视觉系统。
技术参数
光学系统：无限远校正，支持明场/暗场/偏光/DIC观察
物镜：长工作距金相物镜（5X-100X），50X物镜工作距达7.8mm
光阑调节：可变视场光阑（直径0.5-20mm）、可变孔径光阑（数值孔径0.1-0.9）
照明系统：外置15V150W卤素灯箱，光纤传输，亮度连续可调
观察筒：正像铰链三目筒，分光比100:0或0:100，瞳距调节范围54-75mm
接口标准：C接口、1/2CTV、1XCTV，支持数码相机及中继镜连接
产品特点
多模式集成：单台设备实现明场、暗场、偏光及DIC观察，减少设备投入成本
高对比度成像：DIC技术使表面微小高度差呈现浮雕效果，提升透明材料成像质量
长工作距设计：50X物镜工作距达7.8mm，兼容厚样品及复杂结构检测
灵活扩展性：支持外接数码相机、工业相机及自动化控制模块，适配产线升级需求
咨询底价
