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工作原理
CX40M采用无限远色差校正光学系统（Infinity Corrected Optical System），通过物镜将光线聚焦于样品表面，反射光线经无限远光路传输至管镜，最终在目镜视场内形成清晰图像。该设计有效消除色差与像差，确保不同波长光线同步聚焦，配合平场消色差物镜，实现视场边缘与中心同等清晰的成像效果。
应用范围
该显微镜广泛应用于金属材料检测、地质矿物分析及教学科研领域。在工业领域，可用于钢铁、电子、汽车零部件等行业的晶粒度测定、非金属夹杂物分析、表面缺陷检测及涂层厚度测量；在科研领域，支持材料科学、矿物学及高分子材料研究，可实现明场、偏光等多种观察模式；教育机构则利用其进行金相学实验教学，帮助学生掌握材料微观结构分析方法。
技术参数
光学系统：无限远色差校正光学系统，支持50X-1000X放大倍率
目镜：高眼点平场目镜WF10X/20mm，视度可调±5屈光度
物镜：5X-100X无限远平场消色差物镜，100X（油）物镜数值孔径达1.25
载物台：160mm×140mm双层机械移动平台，行程75mm×50mm，精度0.1mm
照明系统：6V20W卤素灯柯拉照明，亮度可调，支持明场/暗场切换
调焦机构：同轴粗微调焦装置，粗调每转行程25mm，微调精度0.002mm
产品特点
高精度成像：无限远光路设计结合多层镀膜技术，显著提升图像对比度与色彩还原度
模块化扩展：支持偏光附件、摄影接口及图像分析系统选配，满足多样化检测需求
人性化操作：低手位调焦手轮与可旋转三目观察筒设计，减少长时间观察疲劳
稳定耐用：全金属机身结构搭配防震设计，适应实验室及生产线复杂环境
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