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工作原理
BOS-NGH通过半导体激光器发射单色光束，激光照射到被测样品中的颗粒时产生散射现象。根据米氏散射理论，散射光强分布与颗粒粒径密切相关，仪器通过多角度光电探测器阵列捕获散射光信号，结合傅里叶变换算法解析数据，最终生成粒径分布曲线（如D10、D50、D90等关键指标）。
应用范围
该设备广泛应用于制药行业（原料药粒度控制）、材料研发（纳米材料、陶瓷粉末表征）、食品加工（奶粉、淀粉粒径检测）及环保领域（大气颗粒物分析）。例如，在某药企项目中，BOS-NGH实时监测药物微丸的粒径分布，指导工艺参数调整；在建材行业，仪器可分析水泥颗粒级配，优化混凝土性能。
产品技术参数
测量范围：0.1μm-1000μm（可扩展至2000μm）
重复性：≤1%（CV值，同一样品多次测量）
准确性：±2%（标准样品验证）
测量时间：≤30秒（单次检测）
进样方式：湿法循环（水/有机溶剂）或干法喷射
输出格式：粒径分布表、累计曲线、区间体积统计
接口：USB、RS232、以太网
电源：AC 220V±10%，50Hz
尺寸：主机：600mm×400mm×300mm；显示器：19寸触控屏
产品特点
宽范围与高精度：覆盖纳米至毫米级颗粒，D50重复性优于1%，满足严格质量控制需求；
智能算法与操作便捷：内置米氏散射模型与自动对中系统，支持一键测量，无需专业人员操作；
多模式进样设计：兼容湿法（超声分散）与干法（高压气体喷射）进样，适应不同样品特性；
数据可靠与扩展性：符合ISO 13320标准，支持第三方软件数据导入，可接入实验室信息管理系统（LIMS）；
工业级耐用性：全封闭光学系统与防尘设计，适应高湿度、多粉尘环境，维护成本低。
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