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工作原理
LH-600E采用光栅尺位移传感器，通过磁性直线导轨确保测头垂直运动稳定性。测头接触工件表面时，光栅尺将位移信号转换为电脉冲，经内置微处理器计算后，转换为数字高度值（mm或inch），支持绝对测量与相对测量模式。设备内置线性补偿算法，消除导轨机械误差，确保微米级测量精度。
应用范围
该设备适用于机械加工（如轴类零件高度检测）、模具制造（型腔深度验证）、电子元件（PCB板厚度测量）及汽车零部件（齿轮齿顶高控制）等场景。其2D测量能力可适配平面、台阶、沟槽等复杂形貌检测，是质量管控、首件检验与工艺改进的核心工具。
产品技术参数
测量范围：0-600mm（支持扩展至1000mm）
分辨率：0.001mm（1μm）
精度：±(2+L/200)μm（L为测量长度，单位mm）
测头类型：硬质合金测针（标配）或红宝石测球（可选）
显示方式：3.5英寸彩色TFT LCD（支持中英文切换）
数据接口：USB 2.0、RS232（支持SPC数据输出）
电源：AC 100-240V（50/60Hz）
防护等级：IP40（防尘）
尺寸：350mm×200mm×500mm（重量≤25kg）
产品特点
光栅尺高精度测量：分辨率达1μm，适配微米级质量控制需求
2D多功能检测：支持高度、深度、台阶差、平面度等参数测量
数显交互设计：彩色屏显示测量值与图形，支持数据存储与SPC分析
稳定磁性导轨：消除机械间隙，确保长期使用精度稳定
兼容标准测头：可更换红宝石测球，适配曲面或小孔测量
国际标准认证：通过ISO 13385认证，符合GD&T检测规范
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