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工作原理
NS-90Z Plus通过动态光散射技术分析颗粒布朗运动，计算粒径分布；同时利用电泳光散射技术测量颗粒在电场中的迁移速度，结合Hückel或Smoluchowski理论推导Zeta电位。仪器采用高灵敏度光电探测器与精密温度控制模块，确保数据稳定性，支持自动优化测量参数以适应不同样品特性。
应用范围
该设备适用于纳米材料（如金属氧化物、聚合物）、生物医药（蛋白质、脂质体）、化妆品（乳液、纳米颗粒）及环境科学（胶体、悬浮液）等领域的粒径与电位分析。其多参数同步测量能力可满足从基础研究到工业品控的多样化需求。
产品技术参数
粒径范围：0.3nm-10μm（动态光散射）
Zeta电位范围：-200mV至+200mV
测量精度：粒径重复性≤2%，电位重复性≤5mV
温度控制：5℃-90℃（精度±0.1℃）
光源：固态激光器（波长635nm）
检测角：90°与15°双角度可选
产品特点
一体化设计：同步实现粒径、电位及分子量测量，提升分析效率。
智能算法：内置自适应数据处理系统，自动识别样品浓度与信号强度。
用户友好：全中文界面、向导式操作流程及自动化清洗功能，降低使用门槛。
高稳定性：光学系统与温度控制模块经严格优化，确保长期测量可靠性。
扩展性：支持第三方软件接口与定制化模块，适配特殊应用场景。
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