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工作原理
XRDynamic 500采用高功率陶瓷X光管（最大功率3 kW）产生单色化X射线束，经光学系统聚焦后照射至旋转样品台上的粉末样品。样品中晶体颗粒对X射线产生布拉格衍射，衍射光信号由高分辨率一维或二维探测器（如HyPix-3000）实时捕获。系统通过分析衍射峰的位置、强度及半高宽等参数，结合布拉格方程（2d sinθ = nλ）与Rietveld精修算法，精准计算样品物相组成、晶格常数及残余应力等结构信息。自动化样品台支持多位置连续测试，搭配智能软件实现无人值守操作。
应用范围
覆盖材料科学研究（金属/陶瓷/高分子材料相变分析、纳米材料晶粒尺寸测定）、地质矿产勘探（矿物组成鉴定、岩石成因研究）、制药行业（药物多晶型筛选、结晶工艺优化）及新能源领域（锂离子电池正负极材料结构表征、催化剂活性位点分析）等。在金属材料开发中，可快速识别析出相并测定晶格畸变；在制药领域，多晶型分析直接影响药物溶解性与生物利用度；新能源电池研究中，电极材料结构稳定性与循环性能密切相关，XRDynamic 500提供关键数据支撑。
技术参数
X光管功率3 kW（Cu靶），测角仪半径250 mm，角度范围0.5°-140°（2θ），角度分辨率0.0001°；探测器类型可选一维（HyPix-3000）或二维（HyPix-400），动态范围>10⁶ cps；样品台承重达5 kg，支持XYZ三轴自动定位；配备智能环境控制系统（温度/湿度监测）与防辐射安全联锁装置。
产品特点
高功率X光管与低噪声探测器组合，实现快速数据采集（分钟级完成全谱扫描）；全自动化样品台与软件集成，支持多任务批处理与远程控制；智能Rietveld精修模块简化数据分析流程，提升结果准确性；模块化设计兼容原位测试附件（如高温/低温腔体），拓展应用场景；符合CE与ISO安全标准，保障操作人员与设备安全。XRDynamic 500以“高效、精准、智能”为核心优势，重新定义粉末X射线衍射分析标准。
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