SZ-100V2 激光粒径分布分析仪
简介
HORIBA 推出了SZ-100V2纳米颗粒分析仪。此仪器通过简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！以技术简单而精确地呈现纳米粒子尺寸及分散体系的稳定性，为您开启纳米科技前进之门！
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪产品介绍：
一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征：粒径、Zeta电位和分子量。
纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好的产品，并减少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2纳米颗粒分析仪。此仪器通过简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！以技术简单而精确地呈现纳米粒子尺寸及分散体系的稳定性，为您开启纳米科技前进之门！
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪产品特点：
粒径测量范围 0.3nm ~ 10μm
SZ-100V2系列采用动态光散射原理(DLS)测量粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量，不论浓度是ppm级还是高达百分之几十，均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极为方便。
Zeta电位测量范围 −500 ~ +500mV
使用HORIBA的微量样品池，样品量仅需100 μL。通过Zeta电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。Zeta电位越高意味着分散体系越稳定，对于配方研究工作意义重大。
分子测量范围 1×103 ~ 2×107
通过测量不同浓度样品的静态散射强度并通过德拜记点法计算绝对分子质量(Mw)和第二维利系数(A2)。
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪的智能化和学习能力可以快速为您确定纳米粒子的特性！
SZ-100V2系列可测量的样品浓度范围很广，所以几乎无需对样品进行稀释和其他处理。独特的双光路系统(90°和173°)设计，既能对高浓度样品进行测量，如釉浆和颜料，也能测量低浓度样品，如蛋白质和聚合物。
将表征纳米粒子的三大参数的测量融于一体：粒子直径、Zeta电位和分子量。
HORIBA开发的一次性Zeta电位测量样品池可杜绝样品污染。专用超微量样品池(最小容量100 μL)简单易用，且适合分析稀释的样品。
HORIBA开发的Zeta电位专用石墨电极，可用于测量强腐蚀性的高盐样品。
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪测量原理：
粒径测量原理
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪采用动态光散射技术测量粒径，通过测量粒子的散射光强度随时间的波动。纳米粒子的布朗运动引起光强的波动，对其进行统计分析可与粒子的扩散相联系。由于布朗运动的激烈程度与粒径大小显著相关，从而可以建立粒径与散射光强度波动的关系。
Zeta电位测量原理（激光多普勒电泳法）
处于悬浮液中的纳米粒子和胶体粒子大多表面带有电荷。当电场作用于液体时，带电粒子将会在电场的影响下运动。运动的方向及速度与粒子的带电量、分散介质和电场强度有关。通过观察散射光的多普勒频移从而测量粒子的运动速度。粒子的运动速度与粒子剪切面上的电位( 即Zeta 电位) 成正比，因此可以通过测量粒子在电场作用下的运动而得到粒子的Zeta 电位。
分子量测量原理
HORIBA SZ-100V2 纳米颗粒分析仪采用两种方法来测量大分子如聚合物、蛋白质和淀粉等的分子量。第一种方法采用动态光散射得到的粒径信息和Mark Houwink 方程。第二种方法是德拜记点法。
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