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工作原理
马尔817CLT测高仪基于高精度光栅位移测量技术，通过精密导轨驱动测头垂直或水平移动，接触被测工件表面后，光栅系统将测头的微小位移转换为电信号，经内部处理器计算后输出测量结果，支持2D平面内多参数（如高度、平面度、平行度等）的同步检测。
应用范围
广泛应用于机械制造、汽车零部件、航空航天、精密模具、电子元件等行业，适用于精密零件的尺寸控制（如轴类、盘类工件）、形位公差检测（平面度、垂直度、圆度）及质量抽检，尤其适合小批量、多品种工件的快速测量需求。
产品技术参数（典型值，具体以官方数据为准）
测量范围：垂直方向0-300mm（可扩展），水平方向依配置调整；
分辨率：0.1μm（部分模式可达0.01μm）；
测量精度：±(1+L/200)μm（L为测量长度，单位mm）；
测头类型：标配硬测头，可选配红外非接触测头或扫描测头；
测量速度：最大移动速度约50mm/s；
工作环境：温度10-30℃（建议恒温），湿度≤80%RH；
电源：AC 100-240V，50/60Hz。
产品特点
高精度与稳定性：采用马尔专利的高精度光栅系统，配合低摩擦导轨设计，长期使用精度稳定；
多功能测量：支持2D平面内尺寸、形位公差（如平面度、平行度、圆度）及轮廓测量，满足多参数检测需求；
操作便捷：配备彩色触控屏与直观软件界面，支持自动测量程序预设，降低操作门槛；
耐用性：全金属机身结构，抗干扰能力强，适应车间环境；
兼容性：支持数据导出（USB/RS232）至质量管理系统，符合ISO/ASME等国际标准。
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