扫描电子显微镜
产品介绍
采用肖特基场发射电子枪 （FEG） 技术。先进的全柱加速技术集成到电子光学柱中 ，确保在低加速电压下具有出色的成像性能，实现各种材料的高分辨率成像。多 探测器系统高效收集样品发出的各种电子信号 进行成像，较大限度地揭示样品的微观形态和结构信息。
卓越的电子光学设计
肖特基场发射电子枪可确保光束稳定性和高成像分辨率。
全柱加速技术可确保电子束在低加速电压下的高成像性能。
复合透镜设计结合了静电场和磁场。物镜无磁场泄漏，确保磁性样品的高质量成像。
全面的信号采集系统
同时收集包括两种类型的二次电子、背散射电子和透射电子信号。
形态学和成分对比的同时呈现，较大程度地揭示了样品的微观形态和成分信息。
模块化设计，具有可扩展的系统架构。
可根据具体应用需求提供定制解决方案。
多个端口兼容EDS、EBSD、WDS、CL、原位实验装置等各种第三方配件，实现成像和分析。
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