全部
▼
214
工作原理
AW-5200-H激光粒度分析仪基于激光散射原理工作。当激光束照射到样品池中的粉尘颗粒时，颗粒会使激光发生散射。散射光的角度与颗粒的大小直接相关，大颗粒产生的散射光角度小，而小颗粒产生的散射光角度大。仪器通过检测不同角度的散射光强度，利用米氏散射理论进行计算，从而得到粉尘颗粒物的粒度分布。这种方法具有测量速度快、精度高、重复性好等优点，能够确保测量结果的准确性和可靠性。
应用范围
环保监测：用于大气、工业排放等环境中的粉尘颗粒物粒度检测，评估空气质量及污染状况。
制药行业：检测药物粉末、颗粒的粒度分布，确保药品质量及疗效。
食品工业：分析食品添加剂、原料颗粒的粒度，优化生产工艺，提升产品质量。
化工领域：监测催化剂、颜料等化工产品的粒度，确保产品性能及稳定性。
科研实验：支持材料科学、颗粒学等科研领域的研究，提供精准的粒度分析数据。
质量控制：在生产过程中，对颗粒物产品进行粒度检测，确保产品符合质量标准。
产品技术参数
参数项 规格说明
测量原理 激光散射法（米氏散射理论）
测量范围 0.1μm - 1000μm（可根据需求扩展）
重复性误差 ≤1%（国家标准物质）
准确性误差 ≤1%（国家标准物质）
检测速度 快速检测，短时间内完成样品分析
激光源 进口半导体激光器，波长稳定，寿命长
接口类型 支持USB、RS-232等数据接口，便于与计算机连接
电源要求 220V AC±10%，适应标准电源环境
操作界面 配备彩色触摸屏，支持中文/英文界面，触控操作，易于使用
数据输出 支持多种数据格式输出，便于后续分析与管理
防护等级 IP52（适应一般实验室环境）
工作温度 5℃~35℃（适应室内环境）
产品特点
高精度测量：采用激光散射技术及米氏散射理论，确保粒度测量的准确性，满足精细分析需求。
宽测量范围：覆盖0.1μm至1000μm的粒度范围，适用于多种粉尘颗粒物的检测。
快速检测：检测速度快，短时间内完成样品分析，提高检测效率。
自动化程度高：支持自动校准、自动对中、自动清洗等功能，减少人为操作误差。
易于操作：配备直观的操作界面和简洁的维护流程，降低使用门槛和维护成本。
数据管理与追溯：支持数据存储与传输，便于后续分析与管理，满足数据追溯需求。
高稳定性与耐用性：采用优质材料制造，确保设备长期稳定运行，延长使用寿命。
合规性：符合相关国家标准及行业标准，满足计量认证及质量控制需求。
咨询底价
