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工作原理
JIC-510采用能量色散X射线荧光光谱（ED-XRF）技术，通过高压激发X射线管产生高能X射线，穿透样品表面后激发其原子内层电子跃迁，释放出与元素种类对应的特征荧光X射线。设备搭载高分辨率硅漂移探测器（SDD），精准捕获Cl（氯）、Br（溴）等卤素元素的特征谱线，结合智能算法与FP（基本参数法）分析软件，快速计算元素含量。其独创的“动态光路优化系统”可自动调整X射线角度与功率，消除基体效应干扰，确保检测结果准确可靠。
应用范围
设备覆盖电子电器、新能源、汽车制造、玩具塑胶等行业，满足RoHS指令对Cl、Br的限制要求（Cl≤900ppm，Br≤900ppm，Cl+Br≤1500ppm），同时支持IEC 62321、ASTM D7891等国际标准检测。典型应用场景包括：原材料卤素含量筛查、生产过程质量监控、成品合规验证及供应商物料抽检，助力企业规避环保贸易壁垒，提升产品市场竞争力。
技术参数
元素检测范围：Cl（氯）、Br（溴），覆盖无卤指令核心管控元素；
检测下限：Cl≤5ppm，Br≤2ppm，满足高精度检测需求；
检测时间：单样品检测≤60秒，支持批量连续测试；
样品腔设计：开放式腔体（适配样品尺寸≥50mm×50mm），兼容固体、液体及粉末样品；
安全防护：三重射线防护系统（软件限值、硬件屏蔽、迷宫光路），符合GB/T 19268标准。
产品特点
智能化操作：7英寸彩色触摸屏搭配中文界面，支持一键检测与自动保存报告，操作门槛低；
高稳定性与重复性：采用进口X射线管与SDD探测器，设备寿命长达5年以上，重复性RSD≤1%；
数据可追溯性：内置审计追踪功能，记录检测时间、操作人员及结果，满足ISO 9001等体系审核要求；
低维护成本：模块化设计便于快速更换耗材，光管与探测器维护周期长达2年，降低长期使用成本。
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