单点开尔文探针
单点开尔文探针是一种高精度、非接触、非破坏性的振动电容装置，专门用于测量导电材料的功函或
半导体材料表面的表面电势和表面功函。这种技术对材料表面最顶部的1-3层原子或分子非常敏感，因此是一种极其灵敏的表面分析方法。KP Technology公司提供的单点开尔文探针系统具有业界最高的分辨率，功函分辨率小于3meV，支持手动高度调节。它广泛应用于有机和非有机半导体、金属、薄膜、
太阳能电池、有机
光伏材料以及腐蚀研究等领域。此外，该设备还可选配多种升级附件，包括大气光子发射系统、表面光电压系统（QTH或LED）、SPS表面光电压光谱（400-1000nm）、不同直径的金或不锈钢探针，以及相对湿度控制和氮气环境箱，以满足多样化的研究需求。
单点开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函或半导体材料表面的表面电势，表面功函。由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。
主要特点：
● 功函分辨率< 3meV
● 手动高度调节
应用领域：
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀
升级附件：
● 大气光子发射系统
● 表面光电压(QTH or LED)
● SPS表面光电压光谱(400-1000nm)
● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm
● 相对湿度控制和氮气环境箱
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