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TWW扭矩扳手测试仪是一款台式高精度扭矩检测设备，体积小巧但扭矩测量范围广。它配备双传感器，测量范围从1 Nm到500 Nm，分辨率最高可达0.002 Nm，精度为0.3%。设备支持传感器旋转测量，并可显示旋转角度，最大旋转角度分别为45°和245°。配备7英寸触摸屏，操作直观便捷，可存储1000组数据，支持USB数据输出。其有效长度为830毫米，接口多样，适用于多种扭矩扳手。设备尺寸为780×688×433毫米，重量45千克，采用DC 5V1A供电，广泛应用于扭矩扳手的校准和测试。
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ETTC数显扭矩测试仪是为气动扳手，扭矩扳手，手动，电动扭矩螺丝刀等工具提供一个简单，精准的检测手段的仪器。ETTC数显扭矩测试仪采用传感器外置设计，结实耐用，工业级元器件，适用于各种需要检定扭矩的生产环境，可更换不同量程传感器，仪器自动识别传感器量程，仪表内部采样频率2000HZ，软件有峰值，第一峰值，自动峰值，双峰值等测量模式，专用脉冲测量模式，采样频率可调节，适用于气动脉冲扳手测试，测量界面可实时统计平均值及标准差，并可保存高达1000条测量数据，数据可通过USB接口与电脑软件通信导出，方便客户分析数据。
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ETTB数显扭矩测试仪是为扭矩扳手，手动，电动扭矩螺丝刀等工具提供一个简单，精准的检测手段的仪器。ETTB数显扭矩测试仪紧凑式设计，结实耐用，工业级元器件，适用于各种需要检定扭矩的生产环境，仪表内部采样频率2000HZ，软件有峰值，第一峰值，自动峰值，双峰值等测量模式，测量界面可实时统计平均值及标准差，并可保存高达1000条测量数据，数据可通过USB接口与电脑软件通信导出，方便客户分析数据。仪器带有RS232接口，灵活开放的通信协议，适用于自动化设备实现自动检定扭矩需求。
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ETTA数显力矩试验机是一款手持式静态扭矩测试仪，主机与传感器分体式设计，可适配多种量程传感器，传感器插入可自动识别，本产品设计用于旋转工件的扭矩扭力测试，包含开关，电机，螺丝等非标的工件工位的测试，大量用于医疗，机械，五金，汽车制造，3C电器等行业领域，仪表内部采样频率2000HZ，软件有峰值，第一峰值，自动峰值，等测量模式，并可保存高达1000条测量数据，数据可通过USB接口与电脑软件通信导出，方便客户分析数据。
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Nanosurf AFSEM 真空环境用原子力显微镜由GETec与Nanosurf提供,让您能轻松地联合两种功能强大的分析工具，原子力显微镜(AFM)与扫描电子显微镜(SEM)，构造真实的三维表面形貌，精确地测量高度信息、距离信息甚至材料属性，但同时保持了在SEM的大范围视场里定位AFSEM悬臂梁到您想要测量的准确位置上。进而大大地扩展了您的相关显微镜测量与分析的可行性。
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Nanosurf Flex-ANA 自动力谱成像原子力显微镜是基于原子力显微镜纳米力学分析的自动化解决方案。它旨在以直观和自动化的方式通过力谱和力图研究多种或大型样品上的材料（例如细胞，组织，支架，水凝胶和聚合物）的纳米力学性能。对于多个样品或者大起伏样品有优势。
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颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。HORIBA CN-300 离心式纳米粒度分析仪可提供两种测量方法:密度梯度模式和均一模式。
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Filmetrics F3-CS是一款专为微小视野及样品设计的薄膜厚度测量仪，适合生产线操作人员和技术人员使用。具备自动基准校正功能，简化了测量前的搭建和校准过程。用户只需设定薄膜上下层信息即可进行测量，支持数百种膜层类型，并能处理透明和不透明基材。通过升级FILMeasure软件，还可扩展反射率测试功能。该设备兼容多种操作系统，采用USB线实现电源供应及通信连接，提供全面的技术支持和服务。
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Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台，以求能够做成千上万次测量。
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Filmetrics F80-C膜厚测量仪采用厚度成像技术，提供快速、准确且经济的薄膜厚度测量解决方案。该设备无需复杂的移动硬件，能在29秒内完成300毫米晶片的21点扫描，适用于化学机械抛光、化学气相沉积等多种工艺。其自动化和直观的操作界面减少了人为错误，降低了成本，是晶片追踪工艺工程师的理想选择。
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Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪是一款先进的膜厚测量系统，能够测量从1nm到10mm的膜厚，并且可以同时测量折射率、反射率和穿透率。适用于单层或多层膜，无论是在平面还是弯曲表面，光斑最小可达20微米。F20具有模块化设计，易于安装和操作，通过USB连接电脑后，能在数秒内得出测量结果。其适用范围广泛，几乎涵盖了所有光滑、半透明或低吸收系数的薄膜材料，包括各种电介质、半导体材料等。该设备配备用户友好的软件界面，提供24小时电话、电子邮件和在线支持，确保用户能够高效准确地进行膜厚测量。
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2026年01月23日 ~ 24日 
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