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阳极铜用X荧光分析仪漂移校正样品的制备方法

159 编辑：北方有色网来源：云南铜业股份有限公司西南铜业分公司

2025-12-25 16:42:40

权利要求 1.一种阳极铜用X荧光分析仪漂移校正样品的制备方法，其特征在于：所述制备方法包括以下步骤： (1)将阳极铜加工至尺寸符合X荧光分析仪漂移校正样品尺寸要求，得到阳极铜样品; (2)对所述步骤(1)得到的阳极铜样品进行表面车光处理; (3)对所述步骤(2)中车光处理后的阳极铜样品表面进行加热，使阳极铜样品表面形成致密的CuO层。 2.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述步骤(1)中，阳极铜样品为圆柱形，其直径为34mm，高度为20~30mm。 3.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述步骤(3)中，加热过程中，控制加热温度为450℃~500℃，加热时间为60min。 4.根据权利要求1所述的制备方法，其特征在于：所述步骤(2)中，阳极铜样品表面车光处理至表面粗糙度Ra≤3.0μm。说明书技术领域 [0001]本发明属于X荧光分析仪漂移校正技术领域，涉及一种阳极铜用X荧光分析仪漂移校正样品的制备方法。背景技术 [0002]铜电解生产工艺是铜冶炼领域常用生产工序之一，铜电解过程中，使用的阳极铜质量直接影响析出的阴极铜质量，由此，在使用阳极铜进行铜电解生产高纯铜之前，需要对阳极铜成分进行测定，以保证使用质量合格的阳极铜进行铜电解生产高纯铜。 [0003]X荧光分析仪是一种基于X射线荧光原理的非破坏性检测设备，主要用于测定固体、液体、粉末等样品中的元素含量及组成，广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域。由于其可以较准确、快速地对阳极铜元素含量及组成进行测定分析，因此，涉及铜电解生产工艺的生产者通常会使用X荧光分析仪对阳极铜进行检测分析。 [0004]然而，目前X荧光分析仪在使用过程中，往往会出现标准曲线漂移现象，导致分析结果准确性降低，因此，在正式使用X荧光分析仪进行检测分析之前，通常需要使用漂移校正样品对X荧光分析仪进行漂移校正，保证X荧光分析得到更加准确的分析结果，提高结果可靠性，为铜冶炼生产保驾护航。 [0005]通常而言，为了确保X荧光分析仪对检测分析对象检测分析结果的准确性，漂移校正样品与检测分析对象采用

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“阳极铜用X荧光分析仪漂移校正样品的制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。

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