广东有色金属物理检测设备

涂层表面硬度试验棒 399     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国ERICHSEN涂层表面硬度试验棒435，是一款专业用于评估涂层表面硬度的便携式检测设备，通过标准化划痕测试法快速确定涂层的抗划伤性能。该仪器符合ISO 15184、ASTM D3363等国际标准，适用于粉末涂层、油漆、塑料涂层及金属镀层等材料的硬度测试，广泛应用于涂料研发、汽车制造、航空航天及电子行业，为涂层质量控制与性能评估提供可靠数据支持。

挺度仪 283     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的美国TABER挺度仪，是一款专业用于测量材料弯曲刚度的精密仪器，可精准评估纸张、薄膜、塑料、金属箔等材料的挺度（抗弯曲性能）。该仪器通过标准化测试方法，为包装材料、印刷基材、工业薄膜等产品的质量控制与研发提供可靠数据支持，广泛应用于造纸、包装、印刷、塑料加工及科研领域。

便携式阵列探头大型表面检测仪 279     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国FOERSTER便携式阵列探头大型表面检测仪ECATCM，是一款基于涡流阵列（ECA）技术的高端无损检测设备，专为金属材料大面积表面及近表面缺陷检测设计。该仪器通过阵列探头与数字化信号处理技术，实现高效、精准的缺陷扫描与实时成像，广泛应用于航空航天、船舶制造、石油化工及轨道交通领域，为复杂结构件的质量控制与安全评估提供可靠解决方案。

双通道/双频涡流探伤仪 333     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的英国ETHER NDE双通道/双频涡流探伤仪WELDCHECK 3，是一款基于涡流检测技术的高端无损检测设备，专为金属焊缝表面及近表面缺陷检测设计。该仪器通过双通道独立控制与双频激励技术，可同步检测不同深度或类型的缺陷，广泛应用于航空航天、石油化工、压力容器及管道检测领域，为焊缝质量控制与安全评估提供可靠解决方案。

涡流电导率检测仪 385     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国FOERSTER涡流电导率检测仪TCM，是一款基于涡流检测技术的高精度便携式设备，可快速、无损测定金属材料的电导率（σ）。该仪器通过电磁感应原理，结合数字信号处理技术，适用于金属分选、热处理状态评估及合金成分鉴定，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子材料及金属加工领域，为材料性能检测与质量控制提供可靠数据支持。

相对磁导率测量仪 217     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国FOERSTER相对磁导率测量仪MAGNETOSCOP 1.070，是一款专业用于快速、无损检测铁磁性材料磁导率的高精度设备。该仪器通过电磁感应与数字信号处理技术，结合闭合磁路设计，可精准测定金属材料的磁性能参数，广泛应用于材料分选、热处理监控、航空航天及汽车制造等领域，为磁性材料研发与工业检测提供可靠数据支持。

磁通计 434     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的List Magnetik磁通计FLUX-CHECK 250，是一款专业用于测量磁性材料或磁场磁通量的高精度便携式设备。该仪器基于霍尔效应与电磁感应原理，可快速、无损检测电机、变压器、磁性元件及材料的磁通量，广泛应用于电力电子、汽车制造、航空航天及磁性材料研发领域，为磁性能评估与质量控制提供可靠数据支持。

磁导率测量仪 420     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国霍释特（FOERSTER）磁导率测量仪MAGNETOSCOP 1.070，是一款专业用于快速、无损检测铁磁性材料磁导率的高精度设备。该仪器通过电磁感应原理，结合闭合磁路设计与数字信号处理技术，可精准测定金属材料的磁性能参数，广泛应用于材料分选、质量控制、航空航天及汽车制造等领域，为磁性材料研发与工业检测提供可靠数据支持。

超声波硬度计 261     

 0

深圳市泰立仪器仪表有限公司代理的德国FOERSTER超声波硬度计SonoDur3，是一款基于超声波技术的便携式无损检测设备，可快速、精准测定金属材料的硬度值。该仪器通过发射高频超声波脉冲并分析反射信号，结合材料弹性模量与硬度的关系，实现非破坏性硬度检测，广泛应用于工业质量控制、航空航天、汽车制造及科研领域。

视频显微镜 234     

 0

EMS 106LX视频显微镜是一款多功能、高清晰度的检测设备，广泛应用于PCB板、硬件、串行设备、FPC、纺织品、票证、视觉工业测试、数字放大镜、医院研究、教育和刑事侦查等领域。它通过全高清显示屏和高清摄像机，提供清晰的图像和视频输出，支持连续变焦和多种测量功能，显著降低劳动强度，提高工作效率。

视频显微镜 241     

 0

EMS106L内置1200万像素数码专用相机和数码录像机，设备支持HDMI 1080p/60fps高清数字信号输出，支持无线传输共享，支持USB 1080p/60fps高清视频流输出，支持宽动态（WDR)。适用于PCB板、五金、连接器、FPC、纺织品、票证、多种工业视觉检测以及医院、科研机构、刑侦、教育等领域。特别适用于连接器、连接端子、IC脚的平整度、平面共面度的在线监测。

视频显微镜 233     

 0

EMS106内置1200万像素数码专用相机和数码录像机，设备支持HDMI 1080p/60fps高清数字信号输出，支持无线传输共享，支持USB 1080p/60fps高清视频流输出，支持宽动态（WDR）。广泛应用于PCB板、五金、接连器、FPC、纺织品、票证、多种工业视觉检测以及医院、科研机构、刑侦、教育等领域。特别适用于连接器、连接端子、IC脚的平整度、平面共面度的在线监测。

精密测高仪 251     

 0

DHG-050N高精度数字高度计广泛应用于模具配件、精密自动化零件、汽车发动机零件、电子接插件、航天航空等领域的精密测量。

高精度数字高度计 236     

 0

DHG-050/DHG-100高精度数字高度计广泛应用于模具配件、精密自动化零件、汽车发动机零件、电子接插件、航天航空等领域的精密测量。

里氏便携式硬度计 357     

 0

DOHP200是一款采用工业级别3.9寸电阻触摸屏设计的便捷式里氏硬度计，整体菜单设计简洁，全触屏操作，可适配DC，C,DL,D+15,G型冲击装置，仪器能自动识别冲击装置类型；DOHP200可实时显示测量的极差值与平均值，换算值，测量方向，材料，统计点数；具有数据存储管理功能，支持500条数据存储，可与电脑软件连接导出数据，内置无线打印功能，与无线打印机连接可无线打印测量数据。

里氏便携式硬度计 364     

 0

Dohp100 是一款便捷式里氏硬度计，采用高亮度低功耗段码式LCD显示，界面可实时显示当前里氏硬度值，当前测量组里氏硬度值平均值，当前硬度换算值，当前硬度换算值平均值，测量方向，换算材料码，显示清晰；内置无线打印功能，与无线打印机连接可打印测量报告，仪器整体设计功耗低，采用3节7号干电池供电；传感器与主机采用雷莫接插，插拔方便耐用。

磁性涂层测厚仪 356     

 0

ETG12F1磁性涂层测厚仪是一款采用磁性法原理的无损检测仪器，内置嵌入式传感器，用于测量导磁性金属基体（如钢、铁等）上非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、橡胶等）的厚度。它适用于工业、电镀业、船舶、桥梁、航空、工程、化工等领域，操作简便，测量快速且精确。其特点包括传感器与主机一体式设计、灵敏的测量速度、低功耗（3节AAA电池供电）、128×64高亮点阵LCD显示、可存储500条数据。规格方面，测量范围为0-1250μm（0~50 mil），分辨率在0~999μm时为0.1μm，≥1000μm时为1μm，精度在0~100μm时为±2.0μm，101~1250μm时精度更高。

自动测量光学膜厚仪 273     

 0

F54-XYT-300 薄膜厚度测量仪采用光谱反射技术，能够高效测量最大200x200mm样品的薄膜厚度，具备电动XY工作台与多种预设及自定义测量坐标图案功能。其配备显微镜和实时摄像头，支持图案表面显微测量，适用于较粗糙材料。内置测绘图案生成器的FILMAPPER软件进一步提升了测量自动化水平。

探针式表面轮廓仪 265     

 0

KLA D600 探针式表面轮廓仪包括一个200mm自动样品载台和具有增强图像控制的光学器件。Alpha-Step轮廓仪体积小巧，专为高校、实验室和研究所设计，可为半导体和化合物半导体器件、LED、太阳能、MEMS、汽车和医疗行业提供台阶高度、粗糙度和应力测量。

椭圆偏振光谱仪 267     

 0

HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制技术使您可以获得完整的测试结果。

高精度镀层测量系统 343     

 0

Bowman B系列 XRF高精度镀层测量系统是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓，通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。

高精度镀层测量系统 333     

 0

BowmanK系列XRF高精度镀层测量系统在高度不超过9英寸(228mm)的工件上具有12英寸(304mm)x12英寸(304mm)可测量区域。自动多准直器允许选择光斑尺寸，以适应各种特征尺寸;可变焦摄像头允许在0.25英寸到3.5英寸的焦距范围内进行测量。伺服电机驱动的可编程平台可实现快速、准确的可编程样品定位。

激光粒径分布分析仪 375     

 0

HORIBA LA-960V2激光粒径分析仪是一种用于测量颗粒粒径分布的仪器，基于激光衍射原理。其测量范围覆盖10纳米至5000微米，并具备干法和湿法两种进样方式，可有效避免液体分散剂对样品的影响。

离心式纳米粒度分析仪 338     

 0

颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。HORIBA CN-300 离心式纳米粒度分析仪可提供两种测量方法:密度梯度模式和均一模式。

激光粒径分布分析仪 275     

 0

HORIBA 推出了SZ-100V2纳米颗粒分析仪。此仪器通过简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！以技术简单而精确地呈现纳米粒子尺寸及分散体系的稳定性，为您开启纳米科技前进之门！

光学膜厚测量仪 289     

 0

Filmetrics F3-CS是一款专为微小视野及样品设计的薄膜厚度测量仪，适合生产线操作人员和技术人员使用。具备自动基准校正功能，简化了测量前的搭建和校准过程。用户只需设定薄膜上下层信息即可进行测量，支持数百种膜层类型，并能处理透明和不透明基材。通过升级FILMeasure软件，还可扩展反射率测试功能。该设备兼容多种操作系统，采用USB线实现电源供应及通信连接，提供全面的技术支持和服务。

薄膜厚度测量仪 245     

 0

使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。

自动Mapping膜厚测量仪 245     

 0

Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台，以求能够做成千上万次测量。

椭圆偏振光谱仪 403     

 0

Auto SE是一款集成了液晶调制技术和反射式微光斑的全自动快速椭偏仪，具备高重复性和信噪比，适用于多种样品的快速薄膜测量与质量控制。其一键式操作界面简化了数据处理流程，同时提供自动MAPPING扫描功能以评估样品镀膜均匀性。该设备兼容200mm×200mm样品台，覆盖450-1000nm光谱范围，适合科研与工业生产中的非均匀及图案化样品测试需求。

白光干涉膜厚测量仪 344     

 0

Filmetrics F54 白光干涉膜厚测量仪能以一个电动R-Theta平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米，可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.只需具备基本电脑技能，就可在数分钟内自行建立配方。