广东有色金属分析检测技术理论与应用

制动失效保护方法、整车控制器及汽车 1035     

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本发明公开一种制动失效保护方法、整车控制器及汽车。该方法包括：获取当前车辆数据和制动故障检测数据，所述制动故障检测数据包括四个后制动机构对应的制动检测信息；根据所述当前车辆数据，确定当前车道工况；根据四个所述后制动机构对应的制动检测信息，确定当前制动故障类型；根据所述当前制动故障类型和所述当前车道工况，确定目标制动保护策略，根据所述目标制动保护策略，控制所述电机轴锁止机构结合或分离，控制正常制动机构和/或故障侧驱动电机进行制动失效保护操作。该方法可实现制动失效保护，且整车结构简单，有助于降低制动失效保护的成本。

有源天线的失效补偿方法、装置及有源天线设备 1239     

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本发明提供一种有源天线的失效补偿方法、装置及有源天线设备,方法包括:实时地检测多路收发通道各自的DBF系数;当检测到任意一路收发通道发生失效时,获取当前失效状态下多路收发通道的当前组DBF系数、以及对应的失效模式信息;采用预设的优化算法,对当前组DBF系数进行优化处理,以计算得到相对于当前组DBF系数、更适配于失效模式信息的第一组DBF系数;根据第一组DBF系数,对各路收发通道的DBF系数进行更新。本发明实施例在无需进行大量预备计算工作的前提下,使得有源天线能够自动求解得到优化的DBF系数值,并自动地分配给各收发通道,从而调节了整个有源天线设备的性能,降低了失效的收发通道对有源天线性能的影响。

判断处理核电污水用的离子交换树脂失效时间的模拟方法 908     

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本发明涉及一种判断处理核电污水用的离子交换树脂失效时间的模拟方法，其包括如下步骤：将核电污水水样上样至含待测离子交换树脂的分离柱；实时检测从所述分离柱的出水端出来的水样中的钠离子浓度，根据所述出水端钠离子浓度或钠离子浓度的变化趋势检测所述待测离子交换树脂的失效时间。上述用于判断处理核电污水用的离子交换树脂失效时间的模拟方法简单，只需测定经过离子交换树脂的出水水样的钠离子浓度或钠离子浓度的单位时间内的变化趋势，就可以检测处理核电污水的离子交换树脂的失效时间点，进而提示操作者是否需要更换离子交换树脂。

智能天线阵元失效后系统重新最优配置的方法 960     

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本发明涉及一种智能天线阵元失效后系统重新最优配置的方法,包括:设置构成相干阵列通道的智能天线基站;基站系统运行、自动检测所述阵列通道中收发通道的工作状态,包括上下行通道检测信号的产生和通道响应信号的测量,检测失效的上下行通道号;重新按现有条件配置系统,并使性能最优。采用本发明提供的方法实现的智能天线基站,在阵元失效时,只要硬件故障没有波及使该扇区正常工作的全部资源,系统仍能自行检测阵元工作状态,重新配置系统并使性能最优,维持系统的通讯功能。

用于脱毛仪的防散热失效系统及脱毛仪 1019     

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本实用新型涉及一种用于脱毛仪的防散热失效系统及脱毛仪，其中的用于脱毛仪的防散热失效系统包括制冷模块、散热模块、温度检测模块及控制模块，散热模块包括第一散热机构和第二散热机构，第一散热机构连接制冷模块；温度检测模块用于检测第一散热机构的温度；控制模块与温度检测模块、制冷模块、第二散热机构分别通信连接，并被配置为根据第一散热机构的温度和/或第二散热机构的功率，控制脱毛仪的开启或关闭，如此当控制模块获得第一散热机构温度过高和/或第二散热机构的功率低于限值的信息时，即可判断散热失效并控制脱毛仪关闭，防止继续运行的脱毛仪对用户的皮肤造成烫伤。

MCU芯片失效告警电路 753     

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本实用新型公开了一种MCU芯片失效告警电路，所述MCU芯片的WID引脚连接至看门狗电路，所述MCU芯片失效告警电路包括信号检测单元、失效判断单元和告警单元；所述信号检测单元的输入端连接至MCU芯片的WID引脚的看门狗信号输出；所述信号检测单元的输出端连接至所述失效判断单元的输入端；所述失效判断单元的输出端连接所述告警单元的输入端。本实用新型的种MCU芯片失效告警电路通过信号检测单元检测MCU芯片发出的信号，在MCU芯片异常时进行告警提示。

软件的失效模式的识别方法及装置 892     

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本发明公开了一种软件的失效模式的识别方法及装置，涉及互联网技术领域，该方法包括：对构建软件的预设需求模型划分为软件外部接口模型、软件功能模型、软件工作状态模型及软件系统依赖关系模型；并基于上述模型分别对软件的独立功能失效模式、软件的功能组合失效模式和软件的状态转移失效模式进行分析；充分体现软件工作状态转换和多个功能组合引起的软件失效，可全方位地分析软件失效模式，具有通用性、易推广和可复制的优点，从而在软件开发过程中发现软件失效的真正原因及潜在威胁，有效促进软件研制阶段安全性设计水平的提高，增强纠正措施的针对性和有效性，提高软件产品的安全性，降低软件失效带来的设备损坏和软件全寿命周期费用。

基于球类孔隙的构件失效可控设计方法 813     

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本发明提供了一种基于球类孔隙的构件失效可控设计方法，包括如下步骤：（1）根据设计要求设计出所需要的构件的原始模型；（2）对原始模型进行实际工况下的有限元、光弹实验分析步骤，得到分析数据；（3）结合分析数据，在指定的位置填充球状单元体，设计出具有球状孔隙的多孔材料，获得构件的初期模型；（4）对初期模型进行力学分析，根据构件的需求对在关键形变位置的球状孔隙采用梯度材料。本发明的有益效果是：本发明结合梯度材料和球状单元体多孔材料，在满足力学性能的同时，使得构件在超负荷大载荷时失效变得可控，并使用最优的先进制造方法制造可控失效构件。

客户信号失效的指示方法与装置 940     

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本发明公开了一种光传输网络中客户信号失效的指示方法,包括:在光通道净荷单元OPUk或/和OPUk-Xv复帧中增加客户信号失效指示位来指示客户信号是否失效;对所接收到的OPUk或/和OPUk-Xv复帧中的PSI的客户信号失效指示位进行检测,所检测的客户信号失效指示连续数超出设定阈值时,指示进行链路保护倒换。本发明同时公开了一种实现前述方法的装置。本发明能够避免因为CSF时延过长而导致APS失效的情况;指示方法简单,实现方便;在复帧中采用多个CSF指示,指示更加灵活。

热泵系统的温度传感器失效判断装置和方法、热泵系统 1060     

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本发明涉及一种热泵系统的温度传感器失效判断装置和方法、热泵系统，该温度传感器失效判断装置包括第一温度传感器和与所述第一温度传感器连接的处理器，其中：所述第一温度传感器，用于检测所述待判断温度传感器所检测对象的环境温度；所述处理器，适于与所述待判断温度传感器连接，用于在所述热泵系统停机时，获取所述待判断温度传感器所检测的对象的温度和所述环境温度，并根据二者判断所述待判断温度传感器是否失效。本发明可以检测出检测值与实际温度值的偏差较大但还未到达短路或断路的情况，即有效的判断出温度传感器是否真的失效，避免热泵系统的控制异常。

解决存储器局部失效的方法 1047     

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一种解决存储器局部失效的方法,是通过逻辑IC或ASIC芯片本身的逻辑电路对存储器以缓冲区为单位进行自检,如果该缓冲区的所有存储单元的自检结果是全部正常,则在自检结束后将其首地址写入空闲缓冲区队列中,供以后使用该缓冲区;如果检测到某个缓冲区有失效的存储单元,则其首地址将不被写入空闲缓冲区队列中,使该缓冲区在逻辑IC或ASIC芯片的正常工作中将永远不会被访问;在自检的同时,还对失效缓冲区进行计数,并在自检结束后,读取该计数值及根据失效缓冲区的多少作相应处理:当失效缓冲区没有或很少,对系统功能或性能影响很小时,该单板可照常工作;当失效缓冲区的数目较大时,才向系统发出告警信号请求维修或更换单板。

电视机场失效保护解除电路及方法 1134     

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本发明公开了一种电视机场失效保护解除电路及方法,要解决的技术问题是方便及时判断电视机的故障部位。本发明的电路,中央处理器连接有场脉冲形成电路,其输入/输出口连接有场失效保护解除电路。本发明的方法包括以下步骤:电视机开机时中央处理器检测设置的解除场失效保护电路;开机后中央处理器进行场失效检测;当检测到场扫描失效时,电视机进入保护状态;当检测到保护电路已设置解除场失效保护设定,则电视机开启。本发明与现有技术相比,中央处理器快速判断是否为场扫描失效保护,从而快速解除场失效保护,让电视机开启,便于维修,克服了以往电路失效后保护电路起了作用而不能开机,难维修的问题。

安全带卡扣失效装置 1278     

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本发明公开了一种安全带卡扣失效装置，包括旋转单元和检测单元，所述检测单元设置在所述旋转单元上；所述旋转单元包括旋转平台，所述旋转平台用于带动所述检测单元转动；所述检测单元包括检测部和报警器，所述检测部伸出所述旋转平台，所述检测部用于在旋转平台的带动下检测是否使用了安全带，所述报警器用于发出报警声。本发明的安全带卡扣失效装置可以有效检测司机或乘客是否使用了安全带卡扣，并及时加以报警提醒，尽可能避免使用安全带卡扣带来的安全隐患，实现车辆安全出行。本发明的安全带卡扣失效装置具有结构简单、实用性强等特点，具有很强的推广价值。

光伏组件失效风险判别方法 996     

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本发明涉及一种光伏组件失效风险判别方法，主要包括以下步骤：确定光伏组件的故障模式；专家小组分别对故障模式相关评价指标因素评价等级，根据评价结果构建故障模式的模糊评判矩阵；根据层次分析法构建相关评价指标因素的权重集；根据模糊评判矩阵和权重集计算各故障模式的综合风险评价因子；根据综合风险评价因子确定故障模式的失效风险。本发明实现了指标评价的客观化、意义化；利用模糊综合评判，引入层次分析法进行权重赋值，实现风险评价指标的量化连续性、权重化，并应用于光伏组件失效风险分析，有效改进FMECA方法量化排序不合理、重复现象，使得分析与实际更加贴合，提高光伏组件失效风险分析结果可信性。

基于失效物理的元器件故障树构建方法和系统 1082     

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本发明公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建方法，包括步骤：根据元器件失效物理共性特点，按失效物理6个层次构建故障信息库，形成6个失效物理层信息的故障信息库；根据故障信息库，按失效物理6个层次及失效物理逻辑关系构建故障树，形成6个失效物理层n级事件的元器件故障树；采用机理子树转移和故障模块子树导入方式对所述元器件故障树进行简化。本发明还公开了一种基于失效物理的元器件故障树构建系统，上述方法和系统建立的故障树可深入到元器件失效物理层面进行分析，以节点事件形式准确描述各失效模式的失效路径、失效机理、机理因子和影响因素，满足元器件故障树分析和机理原因分析的需求。本方法和系统适用于各类元器件故障树的构建。

波分业务处理单元在业务失效时的处理方法 1080     

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本发明公开了一种接入数据业务的波分业务处理单元在业务失效时的处理方法,以使与该波分业务处理单元相连的客户设备能及时获知该单元的业务失效情况,该方法包括:对客户端输入的数据业务进行检测,当检测到其失效时,插入第一维护信号替代客户端输入的数据业务,并将该业务失效情况上报网管;对传输信号及该传输信号解封装恢复出数据业务的过程进行检测,当检测到业务失效时在客户输出端输出第二维护信号,替代客户端输出的数据业务,并将该业务失效情况上报网管。第二维护信号为关闭激光器的命令、PCS层错误码或伪随机序列码。本发明方法操作简便,方便用户对波分业务处理单元进行管理,且对于不同类的波分业务处理单元具有通用性。

建筑体系张弦结构中预应力索失效下的防连续倒塌设计方法 927     

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本发明公开了建筑体系张弦结构中预应力索失效下的防连续倒塌设计方法，包括步骤(1)建立分析模型，获得张弦结构的初始状态及响应；步骤(2)选择具体一个预应力索做失效处理，然后对整体结构进行响应分析；步骤(3)对预应力索构件逐一做失效处理并逐一对失效后的结构进行响应分析：重复步骤(2)，以得到每个预应力索处于失效状态后的张弦结构的破坏状态及响应；步骤(4)进行张弦结构防连续倒塌设计。该方法能够有效防止在任意预应力索发生失效时张弦结构可能出现连续倒塌的情况发生，以保证张弦结构整体结构的稳定性。

镜像失效判断电路及应用其的电器设备 1252     

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本实用新型公开了一种镜像失效判断电路及应用其的电器设备，其中，镜像失效判断电路包括用于检测第一芯片失效情况的第一失效检测模块和用于检测第二芯片失效情况的第二失效检测模块，所述第一失效检测模块电连接第二失效检测模块进而相互感知芯片失效情况。本实用新型的一种镜像失效判断电路，通过第一失效检测模块检测第一芯片失效情况，通过第二失效检测模块检测第二芯片失效情况，同时第一失效检测模块电连接第二失效检测模块，从而使第一失效检测模块和第二失效检测模块彼此之间可以相互感知失效情况，即采用镜像电路，提高失效芯片信号之间的关联性，摒弃门电路芯片，降低生产成本。

金属失效模型构建方法、装置、终端设备及存储介质 1201     

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本申请提供了一种金属失效模型构建方法、装置、终端设备及存储介质，该方法包括：根据试样金属的拉伸测试结果构建本构模型；根据本构模型和试样金属的应力状态测试结果确定等效断裂塑性应变‑应力三轴度曲线，对试样金属进行应力状态仿真得到损伤累积指数、应力减弱系数、等效临界塑性应变‑应力三轴度曲线、断裂应变修正因子‑单元尺寸曲线和断裂应变修正因子；根据等效断裂塑性应变‑应力三轴度曲线、损伤累积指数、应力减弱系数、等效临界塑性应变‑应力三轴度曲线、断裂应变修正因子‑单元尺寸曲线和断裂应变修正因子构建金属失效模型。本申请构建的金属失效模型能对不同应力状态、不同损伤累积和不同应力减弱下的金属进行失效分析。

读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质 943     

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本发明公开了一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。

封装器件的失效定位方法 854     

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本发明提供一种封装器件的失效定位方法。封装器件的失效定位方法包括：获取未失效封装器件的参考信号；所述参考信号包括所述未失效封装器件的时域信号；获取失效封装器件的测量信号；所述测量信号包括所述失效封装器件的时域信号；对比所述参考信号和所述测量信号，获得所述失效封装器件的失效位置。本发明所述的封装器件的失效定位方法，分别获得未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，并通过对比未失效封装器件的参考信号和失效封装器件的测量信号，可以快速获得失效封装器件的精确失效位置，极大地节省了研发人员测试失效位置的时间，帮助提升企业研发竞争力，为后续开展先进封装器件失效分析定位工作提供参考。

核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法 1030     

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本申请提出了一种核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法，包括以下步骤：根据传热管降质失效的历史数据计算得到传热管降质失效的先验分布；获取引起传热管降质的影响因素，给每种影响因素划分影响级别，并获取每种影响级别的权重比例；根据传热管降质失效的历史数据计算得到在传热管降质事件的不同具体类型下，不同影响级别的不同影响因素的发生概率；采用贝叶斯公式计算影响因素的后验概率，并采用全概率公式计算影响因素的修正概率；在分析核电站传热管的运行时间对周期性检修期传热管失效概率的影响。本申请的核电站蒸汽发生器传热管降质失效的概率评估方法，实用新颖，合理有效。

写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质 847     

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本发明公开了一种写失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质，接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据；将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较，判断失效的cell；对比较得到的失效的cell进行分析和判别；执行替换指令，依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成，测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令，以及判断执行结果和固化替换信息，因此测试机在测试过程中的计算量大大减小，相应减小了测试时间，对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说，测试方的设备要求降低。

静电放电失效验证方法 1121     

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本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。

净化装置和净化能力失效判定方法 1067     

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本发明提供了一种净化装置和用于净化装置的净化能力失效判定方法，其中净化装置包括：壳体，壳体具有内部中空的腔体；壳体的一端设置有进气口，另一端设置有出气口；过滤件，设置在腔体内，位于进气口和出气口之间；至少一个粉尘传感器，设置在进气口处和/或出气口处，用于检测空气中的粉尘浓度；风机，设置在腔体中，位于腔体一端，靠近出气口一侧，用于驱动空气流动。本发明提供的净化装置，通过粉尘传感器直接对过滤件的净化能力进行分析，进而使得净化装置判定净化能力的准确率高，并且结构简单，提升了用户的使用满意度。

芯片失效点定位方法、装置及系统 1234     

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本申请涉及一种芯片失效点定位方法、装置及系统，芯片失效点定位方法包括获取芯片通电后发射的光信号；对光信号进行分离，输出多个特定波段的光辐射图像；将多个特定波段的光辐射图像与预置良品芯片结构形貌图比较以确定芯片失效点的波长信息。本申请可以实现对半导体芯片失效点波长的探测分析，在分析过程不会对芯片引入新的失效，提高了对半导体芯片失效分析的效率及准确性，可广泛适用于芯片设计、生产的测试环节，售后问题反馈等环节。

失效点的定位方法、装置、计算机设备、介质和程序产品 973     

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本申请涉及一种失效点的定位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取通过红外热成像装置对被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的热成像图片，并对所述热成像图片进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的相位角；获取通过图像扫描装置对所述被施加测试信号的待测试芯片进行扫描，获得的所述待测试芯片表面的三维图像，并对所述三维图像进行分析，获得所述待测试芯片表面各点的三维坐标；根据所述待测试芯片表面各点的相位角和三维坐标计算所述待测试芯片中失效点的三维坐标。采用本方法能够提高芯片内部失效点定位精度。

有效降低短弧氙灯漏气失效概率的方法 1067     

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一种有效降低短弧氙灯漏气失效概率的方法，在短弧氙灯组装前先将由钨杆和过渡封接组件构成的组装部件进行测试检验：(1)选择若干个灯的组装部件，分别将其钨杆固定，然后对其过渡封接组件和钨杆的连接处、过渡封接组件中的不同种玻璃的各连接处施加大小不同的弯矩进行抗弯测试，对多次试验结果进行统计分析得出合适的弯矩值，要求该弯矩既不会将组装部件压裂，又不会将强度过低的部件用于灯的生产，使组装制成的灯发生漏气；(2)以步骤(1)中获得的合适的弯矩值为标准值，以该值的弯矩施加于要组装成灯的各个组装部件中过渡封接组件和钨杆的连接处、过渡封接组件中的不同种玻璃的各连接处进行抗弯测试，将不能承受该弯矩的组装部件筛选掉，仅使用能承受该弯矩的组装部件进行组装。

鉴定二次电池失效原因的方法 1215     

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本发明公开了一种鉴定二次电池失效原因的方法,包括对失效电池的电极材料取样,用X射线衍射仪进行分析,得到电极材料样品的X射线衍射图谱,然后对衍射图谱进行晶相检索分析得到样品晶相组成,将样品晶相组成与鉴定标准对比,找到鉴定标准中与样品晶相组成对应的标准晶相,该标准晶相所对应的电池失效原因即为所述失效电池的失效原因。通过本发明公开的方法能对失效二次电池进行准确鉴定,即使由于产生爆炸的失效电池也能准确鉴定。

获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置 848     

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本发明公开了一种获取LED光源器件变色失效源头的方法及装置，其方法包括：获取LED光源器件上LED光源变色区域中变色斑点中的斑点元素及变色失效结果成分；对LED光源器件上的灯具零部件采用X射线能谱仪对零部件中的元素进行分析，基于斑点元素确定可导致LED光源变色的灯具零部件；对确定可导致LED光源变色的灯具零部件与含银验证材料一体置于密封腔体内进行零部件失效反应；判断每一零部件所对应的失效反应中的结果是否与LED光源的色变区域的变色失效结果相一致，确定所述灯具零部件为导致LED光源变色失效的源头。通过实施本发明，能够快速检测LED灯光源发生变色失效的源头，得到可能造成光源失效的源头。